二箱沖擊主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

二箱沖擊技術(shù)指標(biāo): 

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～ 150℃

2 、濕度范圍：30%～98%RH

3 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差： 2-3 %RH 

6 、升降溫速率：0.7～1℃/min

二箱沖擊型號與參數(shù)

型號          ㎜ 工作尺寸           外型尺寸              

TS－100     450×450×500        1150×900×1650.

TS－225     500×600×750        1200×1100×1900            

TS－500     700×800×900        1350×1280×2200

TS－800     800×1000×1000      1450×1480×2300

TS－1000    1000×1000×1000      1650×1480×2300

二箱沖擊電磁兼容試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):  

GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試  

GB/T17626.3-2006/IEC61000-4-3:2002《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)》  

GB/T17626.4-2008/IEC61000-4-4:2004《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》  

GB/T17626.5-2008/IEC61000-4-5:2005《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》  

GB/T17626.6-2008/IEC61000-4-6:2006《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度》  

GB/T17626.8-2006/IEC61000-4-8:2001《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗(yàn)》  

GB/T17626.11-2008/IEC61000-4-11:2004《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》  

GB17625.1-2003/IEC61000-3-2:2001《電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）》  

GB17625.2-2007/IEC61000-3-3:2005《電磁兼容限值對每相額定電流≤16A且無條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動(dòng)和閃爍的限制》  

GB/T17626.13－2006/IEC61000-4-13:2002《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗(yàn)》  

更多模擬環(huán)境測試設(shè)備請登陸：http://.ybzhan./st45714/erlist_257986.html      .gdwcjx.