關(guān)鍵詞：

光譜橢偏儀   紫外可見光譜儀器   紫外光譜分析儀   橢偏儀測試   橢偏儀檢測

產(chǎn)品用途：

 BX-G102紫外廣義光譜橢偏儀針對科研和工業(yè)環(huán)境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補償器、利用步進補償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。

儀器特點：

1. 紫外廣義光譜橢偏儀采用先進的雙旋轉(zhuǎn)補償器測量技術(shù)：可測量樣品的Muller矩陣的全部16個元素

2. 秒級的全光譜測量速度：全光譜測量典型10秒

3. 原子層量級的檢測靈敏度：可以測量單原子層

4. 視頻式樣品對準：精確完成樣品對準，并方便觀察，減小人為誤差

5. 入射角和反射角可以單獨調(diào)節(jié)：獨立多入射角度結(jié)構(gòu)設(shè)計，增強了儀器測量的靈活性。適用于反射、透射、散射樣品的測量場合

6. 一鍵式儀器操作：對于常規(guī)操作，只需要鼠標點擊一個按鈕即可完成復(fù)雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求

技術(shù)參數(shù)：