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快速溫變?cè)囼?yàn)箱優(yōu)勢(shì) 參考價(jià):面議
快速溫變?cè)囼?yàn)箱優(yōu)勢(shì)溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺...快速溫變測(cè)試箱制造商 參考價(jià):面議
快速溫變測(cè)試箱制造商一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評(píng)估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。快速溫變測(cè)試箱 參考價(jià):面議
快速溫變測(cè)試箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效,溫度變化率一般小于20℃/分鐘,再現(xiàn)所測(cè)樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差,或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí),...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)