X-Strata980 X熒光測厚儀（X熒光鍍層測厚及ROHS分析儀）（Oxford Instrument）

X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應用選擇zui合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。

· 100瓦X射線管  

· 25mm2PIN 探測器 

· 多準直器配置 

· 掃描分析及元素分布成像功能 

· 靈活運用多種分析模型 

· 清晰顯示樣品合格/不合格 

· 超大樣品艙 

· 同時分析元素含量和鍍層厚度 

· 應用-RoHS/WEEE
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
-電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量
-五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
-貴金屬合金分析和牌號鑒定 

· X-Strata980 配有超大功率X射線光管和高靈敏度探測器，能夠滿足復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。 

· 有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。該款儀器性能，能夠分析包括多層復雜涂鍍層、SAC合金、µPPF和太陽能電池板等復雜應用。
• 有害元素痕量分析
• 焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
• 電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量
• 五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
• 貴金屬合金分析和牌號鑒定 

· 電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。超大探測器靈敏窗口大幅提高了計數(shù)率——大多數(shù)的分析能在數(shù)秒或數(shù)分種內(nèi)完成。靈活組合運用五個初級濾波器，使X光管激發(fā)效率達到*，
得到*的應用效果。儀器測量直徑zui小可達到150微米?？晒┻x擇的準直器直徑
有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特別設計的鋁鈦板在檢測輕制樣品時能大幅降低背景噪音，
從而達到更低的檢測下限。對電子產(chǎn)品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測 

·    儀器在設定的檢測程序中可通過掃描功能一次性快速分析大面積的區(qū)域。一旦識別出問題
區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。掃描分析及元素分布成像功能能夠快速識別復雜組件中的含鉛的零部件或連接件。該款儀器內(nèi)置數(shù)碼影像裝置，能夠精確顯示樣品擺放位置及測試點位置。樣品掃描映射成像圖中可對各種待測元素設置不同顏色，然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。 

· 根據(jù)不同應用，您可以選擇不同的分析方法：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結合。如果您
知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍，經(jīng)驗系數(shù)法是合金分類和元素含量分析的*檢測
方法。當無法預知準確的元素組成或標準片不完備情況時，可選用基本參數(shù)法，通過儀器擁
有的完整光譜數(shù)據(jù)庫，對基材和鍍層進行可信的厚度測量和元素定量分析，測試范圍可從ppm至%。 

·     自由距離測量及超大型樣品艙數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能強大，包括平均值、標準偏差、柱狀圖和管理圖表。數(shù)據(jù)實時導出，可以保存為Excel格式，并快速生成分析報告。用戶能設置快捷鍵，對樣品進行一鍵校準。用戶界面提供9種操作語言大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品。可在0.5” 至3.5”（12.7mm to 88.9mm）范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)聚焦距離，來實現(xiàn)對樣品不同表面的測量。樣品艙內(nèi)部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設計能*防止輻射污染，特別針對塑料等輕質(zhì)樣品的檢測過程而設計。大艙門使樣品更易放入。 

·     自定義程序能通過自定義報告清晰顯示樣品測試是否合格或不合格，還可設置其他針對特定被測元素的報警程序。專業(yè)報告生成軟件，可證明用戶在檢測消費品是否含有有害元素的過程中所采取的盡職措施。