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上海衡翼精密儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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  • 卡片動(dòng)態(tài)彎曲試驗(yàn)機(jī)

    卡片動(dòng)態(tài)彎曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 17:02:07 對(duì)比
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  • IC卡動(dòng)態(tài)雙扭測(cè)試儀

    IC卡動(dòng)態(tài)雙扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 17:00:35 對(duì)比
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  • IC卡動(dòng)態(tài)雙扭曲試驗(yàn)機(jī)

    IC卡動(dòng)態(tài)雙扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 16:58:09 對(duì)比
    IC卡動(dòng)態(tài)雙扭曲試驗(yàn)機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)雙扭曲測(cè)試儀
  • 智能卡動(dòng)態(tài)雙扭曲試驗(yàn)機(jī)

    智能卡動(dòng)態(tài)雙扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 16:56:09 對(duì)比
    卡動(dòng)態(tài)雙扭曲測(cè)試儀卡動(dòng)態(tài)雙扭曲試驗(yàn)機(jī)
  • IC卡動(dòng)態(tài)雙扭試驗(yàn)機(jī)

    IC卡動(dòng)態(tài)雙扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 16:54:27 對(duì)比
    IC卡動(dòng)態(tài)雙扭試驗(yàn)機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)雙扭測(cè)試機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)雙扭測(cè)試儀動(dòng)態(tài)雙扭試驗(yàn)機(jī)
  • 衡翼卡片扭曲測(cè)試機(jī)

    衡翼卡片扭曲測(cè)試機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)...

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:55:33 對(duì)比
    衡翼卡片扭曲測(cè)試機(jī)衡翼卡片扭曲測(cè)試儀卡片扭曲測(cè)試機(jī)價(jià)格衡翼卡片扭曲試驗(yàn)機(jī)衡翼卡片彎曲測(cè)試機(jī)
  • 四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)優(yōu)勢(shì)

    四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)優(yōu)勢(shì)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)...

    型號(hào)： HY-IC 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:39:54 對(duì)比
    四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)品牌四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)機(jī)功能
  • 卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

    卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:18:51 對(duì)比
    卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)上?？▌?dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)雙邊動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)
  • 識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀

    識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:17:02 對(duì)比
    識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)識(shí)別卡彎扭測(cè)試儀識(shí)別卡反復(fù)彎扭測(cè)試儀卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀
  • 上海IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

    上海IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:14:59 對(duì)比
    IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)IC卡彎扭試驗(yàn)機(jī)IC卡反復(fù)彎扭試驗(yàn)機(jī)
  • IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)

    IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:12:33 對(duì)比
    IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)IC卡彎扭曲試驗(yàn)機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲測(cè)試儀IC卡動(dòng)態(tài)彎扭曲測(cè)試機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)
  • Card動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀

    Card動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 12:10:36 對(duì)比
    Card動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀Card動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)IC卡彎扭測(cè)試儀
  • IC卡三輪測(cè)試儀

    IC卡三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試?？ū环诺綑C(jī)器中，測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0....

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 11:56:52 對(duì)比
    IC卡三輪測(cè)試儀IC卡三輪測(cè)試機(jī)IC卡三輪測(cè)試儀價(jià)格IC卡三輪測(cè)試儀廠家IC卡三輪測(cè)試儀品牌
  • 芯片三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試機(jī)

    芯片三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試機(jī)根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試。卡被放到機(jī)器中，測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率...

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 11:55:12 對(duì)比
    三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試機(jī)往復(fù)循環(huán)測(cè)試機(jī)芯片三輪測(cè)試機(jī)芯片三輪測(cè)試儀芯片三輪測(cè)試機(jī)價(jià)格
  • 智能卡三輪壓力測(cè)試儀

    智能卡三輪壓力測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試?？ū环诺綑C(jī)器中，測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為...

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 11:53:34 對(duì)比
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  • 芯片卡滾壓測(cè)試儀

    芯片卡滾壓測(cè)試儀產(chǎn)品介紹：«識(shí)別卡測(cè)試方法»ISO/IEC10373-3-2001，智能卡三輪壓力測(cè)試儀根據(jù)IC卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡三輪測(cè)試，適...

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 11:51:18 對(duì)比
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  • 智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

    智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/19 11:45:33 對(duì)比
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  • 電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置技術(shù)規(guī)范

    電子標(biāo)簽彎曲測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/17 20:55:12 對(duì)比
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  • 南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)

    南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等...

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/17 13:22:56 對(duì)比
    南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)測(cè)試南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)品牌南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)用途南京卡片電子彎曲試驗(yàn)機(jī)價(jià)格
  • 卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)

    HY（IC）卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù):本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO...

    型號(hào)： HY（IC） 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/8/17 13:20:59 對(duì)比
    卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)品牌卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)用途卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)質(zhì)量卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)品牌
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