高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍元素面分布更迅速及時低濃度元素檢測操作簡化自動圖像對中功能從樣品制備到觀察分析實現(xiàn)無縫連接樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容配有各種選......

詳細介紹

概述

產(chǎn)品參數(shù)

高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)
HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)

高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍

元素面分布更迅速及時
低濃度元素檢測

操作簡化

自動圖像對中功能

從樣品制備到觀察分析實現(xiàn)無縫連接

樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容

配有各種選購件可執(zhí)行各種評估和分析操作

同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。
低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至)
高精度放大校準(zhǔn)和測量*
實時衍射單元*(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)
采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))*，具有自動傾斜圖像獲取功能。
ELV-3000即時元素面分布系統(tǒng)*(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)
* ：
選購件

產(chǎn)品參數(shù)

項目		描述
圖像分辨率	w/o球差校正儀	保證 0.204 nm(當(dāng)放大倍數(shù)為4,000,000時)
	w球差校正儀	保證 0.144 nm(當(dāng)放大倍數(shù)為7,000,000時)(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
	w球差校正儀	保證 0.136 nm(HAADF圖像) 保證 0.105 nm(通過FFT)(當(dāng)放大倍數(shù)為7,000,000時)(高分辨率鏡頭*)
放大倍數(shù)		100倍至 10,000,000倍
加速電壓		200 kV, 120 kV *
成像信號		明場掃描透射電子顯微鏡：相襯圖像(TE圖像) 暗場掃描透射電子顯微鏡：原子序數(shù)襯度圖像(Z襯度圖像) 二次電子圖像(SE圖像) 電子衍射* 特征X射線分析和面分布(能譜分析)* 電子能量損失譜分析和面分布(EV3000)*
電子光學(xué)系統(tǒng)	電子源	肖特基發(fā)射電子源
	電子源	冷場致發(fā)射器*
	照明透鏡系統(tǒng)	2-段聚光鏡鏡頭
	球差校正儀*	六極鏡頭設(shè)計
	掃描線圈	2-段式電磁感應(yīng)線圈
	原子序數(shù)襯度收集角控制	投影鏡設(shè)計
	電磁圖像位移	±1 µm
試片鏡臺	樣品移動	X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm
試片鏡臺	樣品傾斜	單軸-傾斜樣品桿：±30°(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭), ±18°(高分辨率鏡頭*)
真空系統(tǒng)		3個離子泵，1個TMP
真空系統(tǒng)	極限真空	10-8 Pa(電子槍), 10-5 Pa(樣品室)
圖像顯示	個人電腦／操作系統(tǒng)	PC/AT兼容, Windows® XP
	監(jiān)視器	19-inch液晶顯示器面板
	圖像幀尺寸	640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素
	掃描速度	快掃，慢掃(0.5至320秒/幀)
	自動數(shù)據(jù)顯示	記錄序號，加速電壓，下標(biāo)尺，日期，時間

*
選購件

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn) 顯微鏡監(jiān)視器顯示器

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球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

深圳市汐品科技有限公司

高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像

高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍

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