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快速/簡(jiǎn)易IVL檢測(cè)設(shè)備

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更新時(shí)間：2025-03-19 09:27:14瀏覽次數(shù)：43次

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麗景電子科技（廣州）有限公司

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快速I(mǎi)VL檢測(cè)設(shè)備可用于快速檢測(cè)OLED/QLED等發(fā)光器件的電流、電壓、亮度的變化情況，其優(yōu)點(diǎn)在于：30s內(nèi)可完成單個(gè)發(fā)光器件的IVL測(cè)試；可兼容頂發(fā)射、底發(fā)射；集成于測(cè)試暗箱內(nèi)，有效隔絕外界光電信號(hào)的干擾；可搭配光纖光譜儀，測(cè)試IVL過(guò)程中選擇性測(cè)試發(fā)光器件光譜；搭配快速開(kāi)關(guān)切換模塊可自動(dòng)掃描多個(gè)發(fā)光點(diǎn)的快速I(mǎi)VL曲線等

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