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更新時(shí)間:2024-07-31 07:33:04瀏覽次數(shù):54次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)CT8203 激光器芯片低溫測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)半導(dǎo)體 LD 激光器在低溫、常溫、高溫三個(gè)不同溫度下進(jìn)行的光電特性LIV掃描測(cè)試、光譜掃描測(cè)試參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)為雙溫區(qū)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),一個(gè)產(chǎn)品可連續(xù)測(cè)試兩個(gè)溫度。系統(tǒng)主要由晶圓供給區(qū)、芯片搬運(yùn)區(qū)、芯片位置校正區(qū)、芯片OCR提取區(qū)、芯片測(cè)試區(qū)、芯片收納區(qū)共六部分組成。系統(tǒng)集成了①?gòu)木A環(huán)上料→②運(yùn)輸→③DUT ID掃描→④高/低溫測(cè)試→⑤下料→⑥分揀歸類。 CT82......
● CT8203 測(cè)試效率非常高,可在 6.8s (1次LIV+3次光譜)內(nèi)完成上述 6 個(gè)流程
● 適合大批量量產(chǎn)應(yīng)用
● 系統(tǒng)采用偏心凸輪結(jié)構(gòu)、高精度直線電機(jī)、高重復(fù)性步進(jìn)電機(jī)計(jì)、高精密夾具、高穩(wěn)定性加電探針及高導(dǎo)熱載臺(tái),使其具有出色的精度和穩(wěn)定性
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