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全自動(dòng)光譜分析儀

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更新時(shí)間：2022-10-13 13:37:27瀏覽次數(shù)：113次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。性能優(yōu)勢(shì)： 1. 微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.0085mm2 2. 變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離

詳細(xì)介紹

儀器簡(jiǎn)介：

XAD是一款上照式全元素光譜分析儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.008mm2

變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm

自主研發(fā)的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測(cè)，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量

*的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限

高性能探測(cè)器：SDD硅漂移窗口面積20/50mm2探測(cè)器

X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置

上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)對(duì)超大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量

可編程自動(dòng)位移：選配自動(dòng)平臺(tái)，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無(wú)人值守自動(dòng)測(cè)量

多準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

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