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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評(píng)估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)絕緣電阻值測(cè)試,在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短...
HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器,醫(yī)療設(shè)備,HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個(gè)程序的控制器,操作簡(jiǎn)單方便。箱門采用按鈕式,試驗(yàn)中自動(dòng)鎖緊,安全可靠。通過(guò)緩...
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱(Hast)PC-422R8D高加速壽命試驗(yàn)箱(Hast),HIRAYAMA的雙箱體系統(tǒng)精度高,測(cè)試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作,獨(dú)...
HIRAYAMA公司生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全,性能穩(wěn)定,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等。HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱
HIRAYAMA產(chǎn)品具有中華人民共和國(guó)特種設(shè)備制造許可證、ISO9001質(zhì)量認(rèn)證ISO14001環(huán)境質(zhì)量認(rèn)證、TUV質(zhì)量認(rèn)證、CE認(rèn)證等相關(guān)認(rèn)證。 HIRAYA...
拉力機(jī):萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)是采用微機(jī)控制全數(shù)字寬頻電液伺服閥,驅(qū)動(dòng)精密液壓缸,微機(jī)控制系統(tǒng)對(duì)試驗(yàn)力、位移、變形進(jìn)行多種模式的自動(dòng)控制,完成對(duì)試樣的拉伸、壓縮、抗彎試...
Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測(cè)試儀是一套自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng),用來(lái)測(cè)量那些電子封裝材料和多種柔性的,堅(jiān)硬的,半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導(dǎo)率需要測(cè)量的樣品被夾在兩個(gè)平行...
深圳市世紀(jì)天源儀器有限公司是HIRAYAMA代理,供應(yīng)的HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱性能穩(wěn)定,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電路板等相關(guān)的使用...
J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測(cè)試,J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測(cè)系統(tǒng),并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被...
ANATECH熱阻測(cè)試儀Phascl2主要用于測(cè)試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IlGBT,IC等分立功率器件的熱阻...
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~...
導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
日本HIRAYAMA高壓蒸煮試驗(yàn)箱(PCT)PC-242HS-A,其生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全,性能穩(wěn)定,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電...
日本HIRAYAMA高壓蒸煮試驗(yàn)箱(PCT)PC-305SIII,其生產(chǎn)的HAST/PCT設(shè)備種類齊全,性能穩(wěn)定,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于電子零件制造商或與半導(dǎo)體光伏、電...
日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF) CAF試驗(yàn)/CAF測(cè)試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)...
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱(HAST)適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)...
氣體腐蝕試驗(yàn)箱1用于確定工作或貯存的室內(nèi)或室外環(huán)境對(duì)電工電子產(chǎn)品元件設(shè)備與材料特別是接觸件與連接件的腐蝕影響。腐蝕氣體試驗(yàn)是利用二氧化硫,二氧化氮,氯氣,硫化氫...
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