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日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
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型號： HVUα-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:40:32 對比

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日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
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型號： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 17:23:16 對比

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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
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型號： ECM-100/1... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 15:56:23 對比

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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
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型號： ECM-100 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:53:08 對比

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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

型號： ECM-500 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:51:28 對比

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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）
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型號： HVUα-3000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:34:14 對比

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型號： HVUα-2000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 14:22:29 對比

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型號： ECMr-1000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/10/14 11:47:30 對比

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離子遷移測試裝置（CAF）
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3000V離子遷移試驗(yàn)裝置
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型號： HVUα_3000... 所在地：深圳市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2024/5/14 15:32:21 對比

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