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目錄:杭州雙色智能檢測儀器有限公司>>紫外光譜測試>> HP350UVF紫外頻閃光譜分析儀
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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HP350UVF紫外頻閃光譜分析儀
HP350UVF(200-450)紫外頻閃光譜分析儀是新一代光源光色測試儀器，5寸IPS觸摸屏，采用先進的微型光譜儀、嵌入式操作系統(tǒng)和微電腦技術相融合，便捷現(xiàn)場測試，使測試更加便捷簡單，更加符合現(xiàn)場應用場景的參數(shù)測試分析及驗證。
主要應用:
(1) (依據(jù)標準：
紫外：GB 28235—2020、GB 28235-2011、GB24147-2009、GB23112-2008、GB33374-2016 、GB30671-2014
光照：GB55016-2021建筑照明CIE1931、CIE1960、CIE1976、GB/T5700-2008、GB/T 36979
頻閃：▲基本測量、▲IEEE PAR 1789《IEEE Std 1789TM-2015》GB/T 18910.61
(2) 基本測量功能：
輻照度（mw/m2）、波長、半寬度、UVA、UVB、UVC、透射比、閃爍指數(shù)、閃爍百分比、調(diào)制深度、頻閃風險等級等
HP350UVF紫外頻閃光譜分析儀
（一）、產(chǎn)品優(yōu)點
1、通訊方式： USB
2、多種展示方式：電腦、IPS觸摸屏
3、外形符合人體學手持設計，使用便捷方便。
（二）、核心器件
1、TCD1304DG CCD 探測器鍍增透膜，實現(xiàn)光照區(qū)有量子效率曲線 波段范圍380-780nm
2、增強鍍膜光柵：刻線數(shù)：1200線、閃耀波長300nm, 光譜響應200-1100nm
3、增強準直鏡、聚焦鏡
4、16位高速AD取樣
5、高精度穩(wěn)定運算電路
6、高精度光路、雜散光小、消除高階衍射光譜（配云譜濾光系統(tǒng)）
（三）、測試優(yōu)點
1、對比測試、透射比測試、參數(shù)比對（磙動、鎖定兩種模式）
2、定時測試，定時保存（可進行光衰減測試驗證）
3、波長可調(diào)，方便查詢（單波段更加方便查看分析）
4、測試結果修正（針對不同的場景及環(huán)境變化的測試結果系數(shù)修正）
二、光路特性（光纖光譜儀結構）
1、多種光學輸入：余弦修正探頭、SM905光纖（配余弦修正）
2、波長范圍： 200-450nm
3、光譜分辨率：±0.2nm,波長分辨率：
4、光度線性±0.3%
5、雜散光:<0.1％
6、光度探頭余弦修正：誤差≤5%，非線性≤1%
7、疲勞誤差值：≤2%
8、長波響應誤差：≤15%
9、相對示值誤差：±5%
10、零值誤差：±1%(FS)
11、量程：自動 誤差±1%
12、高速數(shù)據(jù)采集，積分時間:毫秒級
13、焦距42.5mm 對稱非交叉H-T光路14、通訊方式：USB通訊
15、外形尺寸：186mm*80mm*21.8
16、采用先進的微型光譜儀技術，比傳統(tǒng)的探頭測試精度更高；
17、可連接電腦軟件測試，可連接電腦打印測試報告；
18、彩色液晶顯示，圖文界面好，可顯示光譜波形、色容差橢圓圖；
19、5寸IPS觸摸屏
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