普賽斯儀表A400半導體功率循環(huán)測試數(shù)據采集卡，是一款普賽斯自主設計開發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據存儲的高精度數(shù)據采集卡。采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達16bits，最高支持2MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間隔離。采集卡可應用于我司3插卡或10插卡主機上，單主機最高支持40通道。

產品具有采樣速度快，分辨率高，通道互相隔離等特點，因此，可廣泛應用于各類型功率半導體功率循環(huán)，可靠性測試，以及其他工業(yè)場景等數(shù)據采集。

產品特點：

插卡式設計，4通道/插卡，最高支持40通道

各通道互相隔離，通道間耐壓＞500V

16位A/D分辨率

支持變速率采樣，最高可達2MS/s采樣率

支持大容量數(shù)據存儲

采集精度高，多電壓量程

軟件兼容性廣，支持Labview，C/C++等

技術參數(shù)：                                                                                                                           

半導體功率循環(huán)測試數(shù)據采集卡應用領域：

功率半導體功率循環(huán)，可靠性測試，以及其他工業(yè)場景等數(shù)據采集。

普賽斯以自主研發(fā)為導向，深耕半導體測試領域，在I-V測試上積累了豐富的經驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設備，廣泛應用于高校研究所、實驗室，新能源，光伏，風電，軌交，變頻器等場景。普賽斯全新升級S系列數(shù)字源表更大直流,更高精度,科研實驗需備源表,標準的SCPI指令集,上位機軟件功能豐富,半導體測試領域的經典產品!