【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《打印顯示 薄膜均勻性測(cè)試方法》編制完成并征求意見(jiàn)，時(shí)間截止到2023年5月23日。主要起草單位為京東方科技集團(tuán)股份有限公司等。
 

　　目前在顯示制造行業(yè)里面，新型有源有機(jī)發(fā)光二極管顯示(AMOLED)呈現(xiàn)出逐漸成熟壯大的形勢(shì)。AMOLED是主動(dòng)發(fā)光型的顯示，具有輕、薄、低功耗、高亮度、廣視角、高對(duì)比度、易柔性化等優(yōu)點(diǎn)。目前應(yīng)用于小尺寸產(chǎn)品，從高端市場(chǎng)切入已逐漸替代TFT-LCD 顯示產(chǎn)品，大尺寸產(chǎn)品市場(chǎng)的份額近兩年也不斷擴(kuò)大。AMOLED顯示在大部分性能參數(shù)上優(yōu)于傳統(tǒng)TFT-LCD顯示，但是其主要的劣勢(shì)之一是制造成本高。
 

　　我國(guó)顯示行業(yè)目前在研發(fā)各種新的制造技術(shù)，結(jié)合AMOLED顯示技術(shù)的性能優(yōu)勢(shì)無(wú)需增加費(fèi)用的打印顯示迎來(lái)了產(chǎn)業(yè)化發(fā)展機(jī)遇,和處于產(chǎn)業(yè)化初期的全球打印顯示處于同步階段，也是我國(guó)產(chǎn)業(yè)能否取得行業(yè)主導(dǎo)權(quán)的關(guān)鍵階段。
 

　　隨著消費(fèi)者對(duì)超薄、節(jié)能、真彩顯示、柔性顯示等新的顯示性能的需求，打印顯示技術(shù)快速發(fā)展，打印 OLED (Organic Light Emitting Diode，有機(jī)發(fā)光二極體)顯示技術(shù)作為典型應(yīng)用，有望憑其自發(fā)光、輕薄可卷曲、高對(duì)比度等特點(diǎn)脫穎而出，該技術(shù)與真空蒸鍍法相比，不需要掩膜板即可實(shí)現(xiàn)大面積發(fā)光陣列制備，與白光OLED相比，不需要彩色濾光片，可大幅節(jié)省生產(chǎn)成本并降低功耗，根據(jù)以上特點(diǎn)使得該技術(shù)成為極具量產(chǎn)性的中大尺寸顯示面板制造技術(shù)有機(jī)會(huì)引領(lǐng)下一代新型顯示技術(shù)的跨越式發(fā)展。
 

　　目前全球顯示技術(shù)較為發(fā)達(dá)的國(guó)家和企業(yè)都給予打印顯示，尤其是打印OLED產(chǎn)業(yè)充分的重視。我國(guó)多家高校、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)也在同步開(kāi)展柔性顯示技術(shù)和產(chǎn)品的研究。打印技術(shù)已成為面板制造行業(yè)升級(jí)新制造技術(shù)的主要趨勢(shì)。
 

　　對(duì)于打印顯示薄膜均勻性的基本測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試方法,均沒(méi)有統(tǒng)一的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),目前各企業(yè)根據(jù)企業(yè)自身特點(diǎn)結(jié)合客戶需求制定僅適合其本企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行指導(dǎo)生產(chǎn)，造成市場(chǎng)上同系列產(chǎn)品在性能、使用特性上無(wú)法進(jìn)行橫向直接比較，容易引起市場(chǎng)混亂，在一定程度上影響了打印顯示行業(yè)的健康發(fā)展，因此迫切需要布局開(kāi)展技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)研究。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)主要旨在打印顯示薄膜均勻性的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，統(tǒng)一行業(yè)規(guī)范。經(jīng)過(guò)研究和試驗(yàn)，確定了本標(biāo)準(zhǔn)的主要技術(shù)內(nèi)容:1.范圍、2.規(guī)范性引用文件、3.術(shù)語(yǔ)和定義、4.方法原理、5.測(cè)試條件、6.測(cè)試報(bào)告。測(cè)試方法中包含的項(xiàng)目:子像素內(nèi)均勻性、相鄰子像素均勻性、短程均勻性。
 

　　對(duì)于有機(jī)電致發(fā)光二極管(OLED)或量子點(diǎn)電致發(fā)光二極管(QLED)等電流驅(qū)動(dòng)型器件，通常表現(xiàn)為電流密度大時(shí)，亮度高;電流密度小時(shí)，亮度低。而電流密度和薄膜厚度之間呈現(xiàn)正比關(guān)系。子像素內(nèi)各處薄膜厚度不均勻時(shí)，會(huì)出現(xiàn)不均勻的電流密度分布，更容易引起材料老化、裂解，引起器件性能衰退。因此需要對(duì)像素內(nèi)的薄膜厚度均一性進(jìn)行測(cè)試，以實(shí)現(xiàn)亮度的均勻性。
 

　　測(cè)試打印顯示薄膜厚度的方法，通常使用臺(tái)階儀(或段差計(jì))，可通過(guò)接觸表面形貌而獲取薄膜厚度。臺(tái)階儀掃描待測(cè)樣品表面時(shí)，探針的掃描路徑隨著表面形貌而起伏，其運(yùn)動(dòng)情況反映了表面輪廓的情況，進(jìn)而得到打印薄膜的厚度，以計(jì)算薄膜均勻性。