產(chǎn)地：美國(guó)
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Emai：wyljhx2012
主要特點(diǎn)：
1） X-Calibur SDD LE非常適合于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室操作，它還包括了*整合的電腦系統(tǒng)。堅(jiān)固的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)使得該儀器成為移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。
2） 占地面積少、性能*。強(qiáng)大的50kV，50W的X-Calibur能量色散X射線熒光光譜儀裝在單機(jī)柜中并能在在工作臺(tái)上運(yùn)行。
3） X射線管*的前端正極幾何體以及*的光學(xué)設(shè)計(jì)，允許與樣本極近的連接，提高了儀器的靈敏度和性能。
4） 滿足MIL 810E沖擊測(cè)試要求的規(guī)格。
5） 強(qiáng)大nEXt軟件平臺(tái)能提供定性及定量分析，操作簡(jiǎn)單。這一軟件平臺(tái)是所有產(chǎn)品通用的。
6） 自動(dòng)取樣器位于隔離的樣本腔室內(nèi)，樣本腔室內(nèi)含有所有的輻射物，是安全互鎖的。樣本正面朝下被讀取，而X射線激發(fā)與檢測(cè)系統(tǒng)自下而上工作。分析較大的樣本時(shí)，自動(dòng)取樣器可被移走。
7） 測(cè)量范圍從C（6）－Fm（100）元素含量分析范圍從sub ppm~。
8） 避免使用液氮冷卻，節(jié)省費(fèi)用和時(shí)間。
9） 硅漂移探測(cè)器（SDD）具有電子噪音低和高計(jì)數(shù)率的特點(diǎn)，與Si-PIN 探測(cè)器相比，SDD 探測(cè)器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結(jié)果，適用于重元素及輕元素。
10）SDD LE薄聚合物窗口用于改進(jìn)的輕元素分析。
主要用途：
1）石油-改善低濃度硫探測(cè)；
2）化學(xué)-添加劑分析和過(guò)程控制；
3）聚合物-添加劑分析；
4）法醫(yī)學(xué)-jia基benbingan分析和移動(dòng)的犯罪現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室；
5）冶金-金屬識(shí)別和碎片分類；
6）涂料-改善金屬電鍍和硅涂層分析；
7）采礦-主要元素定量化；
8）環(huán)境應(yīng)用-野外篩檢工具；
技術(shù)參數(shù)：
| 測(cè)量能力 | |
| 測(cè)量范圍 | C（6）－Fm（100） |
| 元素含量分析范圍 | Sub ppm - |
| X光管 | |
| X光源 | Rh – 陽(yáng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn) |
| X-射線電壓 | 50kV, 50W |
| 激發(fā)模式 | 直接使用過(guò)濾器 |
| 穩(wěn)定性 | 室溫條件下精確到0.1% |
| X光探測(cè)器 | |
| 探測(cè)器 | 硅漂移探測(cè)器（SDD），避免使用液態(tài)氮 |
| 分辨率 | 123 eV ± 5eV |
| 窗口 | 輕元素*化的薄聚合物窗口 |
| 特性 | |
| 自動(dòng)成樣 | 8個(gè)位置（可選16個(gè)位置） |
| 工作條件 | 空氣/真空/氦氣 |
| 濾光片 | 8款可選的軟件 |
| 電源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz |
| 脈沖加工 | 多信道分析 |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 55×55×32（不含包裝），80×80×65（含包裝） |
| 重量 | 50Kg（凈重），90Kg（總重） |
| 樣品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm |
| 電腦 | 集成 pc |
| 軟件 | |
| 操作軟件 | nEXt，運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級(jí)基本參數(shù)算法 |
| 控制 | 樣品激發(fā)，探測(cè)，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制 |
| 光譜處理 | 逃逸峰及背底的自動(dòng)去除，自動(dòng)重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計(jì)報(bào)告 |
| 定量分析算法 | 考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）?？傆?jì)數(shù)，凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。 |
| 報(bào)告 | 用戶可自定的數(shù)據(jù)報(bào)表及打印形式 |
