儀器簡介:
X-RoHS+SDD用于RoHS環(huán)境 | X-RoHS+SDD用于全部分析環(huán)境 | |
測量能力 | ||
測量范圍 | Pb, Hg, Cd, Cr, Br | F(9)-Fm (100) |
元素含量分析范圍 | Sub ppm - | |
X光管 | ||
X光源 | Mo–陽級標(biāo)準(zhǔn) | |
X-射線電壓 | 50kV, 50W | |
激發(fā)模式 | 直接使用過濾器 | |
光斑尺寸 | 微點—0.1mm,宏點0.8mm(根據(jù)樣品) | |
穩(wěn)定性 | 室溫條件下精確到0.1% | |
X光探測器 | ||
探測器 | 硅漂移探測器/超級SDD,熱電冷卻 | |
分辨率 | 129 eV ± 5eV (使用超級SDD,可達(dá)到123 eV ± 5eV) | |
特性 | ||
工作條件 | 空氣/氦氣 | |
濾光片 | 6款可選的軟件 | |
電源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz | |
脈沖加工 | 多信道分析 | |
尺寸(L×W×H,cm) | 55×55×32(不含包裝),80×80×65(含包裝) | |
重量 | 50Kg(凈重),90Kg(總重) | |
樣品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm | |
電腦 | 集成 pc | |
軟件 | ||
操作軟件 | nEXt,運行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級基本參數(shù)算法 | |
控制 | 樣品激發(fā),探測,樣品操控,數(shù)據(jù)采集及處理的自動控制 | |
光譜處理 | 逃逸峰及背底的自動去除,自動重疊峰解析,圖解式統(tǒng)計報告 | |
定量分析算法 | 考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法(六種模式)??傆嫈?shù),凈計數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。 | |
報告 | 用戶可自定的數(shù)據(jù)報表及打印形式 |