| SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。 SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界*技术生产。 SIDSP工作原理？ 跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项*的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。 SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。 为什么选择SIDSP？ SIDSP探头具有*的抗干扰性 SIDSP-测量信号高稳定性 EPK的SIDSP探头具有*的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的优秀性能。 高精确度的SIDSP探头特征曲线 在生产过程中，EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上进行校准，大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准，将测量错误降至zui低。 SIDSP探头对温度变化不敏感 在生产过程中，对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码，这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量，与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生！ 需要快速测量几个点吗？只要开启快速测量模式，探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗？没问题，只要选择高精度模式，仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量，SIDSP都能完成您的选择！ SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿 由于使用了EPK特殊的自动补偿方法，SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料，如铜，钛，等等，无需特别在基体上校准仪器。 SIDSP-未来解决方案 EPK将继续改进SIDSP技术以满足客户的需求。您可以从EPK的进行免费的软件升级，使您的SIDSP探头总是版本。 MINITEST700系列及SIDSP
有了新的SIDSP F型探头（测量铁基体）和N型探头（测量非铁基体），您可享受到高精确度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题，而产品优质的外观是您*价值和成功的关键，比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑，或电镀等行业。 增加了测量速度设置选项 MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下，您可以短时间测量大量数值；也可以只测量少数几个数值，但要求精度很高，您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时，仪器会报警，保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警，在极限范围内用绿色LED灯表示，超过极限值则用红色LED灯提示。 使用简单方便 MINITEST 700按照人体工学设计，外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性，MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头，方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求：如果您想单手测量，可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏，显示内容可以180度旋转，方便您读取数据。 所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时，整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和金钱，仪器预设了大量校准方法，适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准，零点校准，2点校准和3点校准。另外，还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应销售需要，MINITEST 700满足各种标准：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亚（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。 MINITEST 700优点一览：
标准配置： *配件: 带塑料手提箱，内含： -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
德国EPK MINITEST 720/730/740涂层测厚仪技术数据表: | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
SIDSP探头
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主机
| 型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
| 数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
| 存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
| 统计值 | 读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
| 校准程序符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
| 校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
| 极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
| 测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
| 操作温度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放温度 | -20℃-70℃ | ||
| 数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
| 电源 | 2节AA电池 | ||
| 标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
| 体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
