| 儀器簡介 | |
| “上海光譜”的SP-754PC型紫外可見分光光度計是基于SP-754型的基礎上，利用計算機的強大資源和MS-Windows平臺豐富的功能開發(fā)設計的具有光譜掃描功能的新一代紫外可見分光光度計。儀器除了保留針對生命科學領域所需的性能外，同時通過計算機可實現(xiàn)光譜掃描、光度分析、定量分析和動力學分析等多種應用功能和數(shù)據(jù)處理功能。您不必花高價，買價格昂貴的進口產(chǎn)品，“上海光譜”的SP-754PC型的解決方案完*滿足您的需求。 | |
| 主要特點 | |
| · 190-1100nm波長范圍，可獲得從近紫外至近紅外的光譜范圍。 | |
| · 每小時誤差不超過0.002A穩(wěn)定性性能，可滿足動力學分析對儀器精度的要求 | |
| · 可測試zui小至50微升的樣品（需選購微量比色池、架），滿足DNA定量分析的要求； | |
| · 儀器具有開機自檢，自動校正波長和能量測試等智能功能，確保您每次使用時，儀器處于*測試狀態(tài) | |
| · 多樣化、系列化的附件滿足各個行業(yè)各種應用領域特殊需要，擴大和延伸儀器的應用能力 | |
| 技術指標 | |
| 光學系統(tǒng)： | 單光束自準式光路，1200條/毫米高性能光柵 |
| 顯示系統(tǒng)： | 2×20字節(jié)液晶顯示器 |
| 波長范圍： | 190-1100nm |
| 波長準確度： | ±1nm(系統(tǒng)自動校正) |
| 波長重復性： | 0.5nm |
| 波長設置方式： | 自動 |
| 光譜帶寬： | 4nm |
| 雜散光： | ≤0.3%T（在220nm 和340nm處） |
| 光度顯示范圍： | 0%T to 125.0%T, |
| | -0.097 to 3.000A, |
| | 0C to 9999C(0-9999F) |
| 光度準確度： | ±0.5%T |
| 光度重復性： | 0.3%T |
| 穩(wěn)定性： | ±0.002A/小時（500nm處，預熱一小時） |
| 基線平直度： | ±0.004A |
| 數(shù)據(jù)輸出接口： | 模擬接口，RS-232C接口 |
| 電源要求： | 220VAC, ±10%, 50Hz, ±10% |
| 外型尺寸： | 475 ´420´180mm |
| 儀器重量： | 11kg |
| 軟件功能Win-SP5.2（基本版） | |
| 光度分析： | 吸光度、透射比、濃度測定 |
| 光譜分析： | 光譜掃描 |
| 定量分析： | 標準曲線法 |
| 動力學分析： | 時間掃描 |
