X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,檢出限到2pg。
X熒光光譜儀是一種較新型的可以對多元素進(jìn)行同時(shí)測定的儀器,在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X熒光),波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。

X熒光光譜儀是一種的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,X射線熒光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線,這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法,考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。

X熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應(yīng)用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側(cè)技能的一個(gè)主要使用范疇,X熒光光譜儀根據(jù)有手持和臺(tái)式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。

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