X熒光光譜儀隨著分光、探測系統(tǒng)及X光管等的不斷改善和電子計算機的應(yīng)用,而得到迅速的推廣和發(fā)展。可以預(yù)料,對新技術(shù)、新方法的探索,還會不斷促進X熒光光譜儀器的更新發(fā)展。
X熒光光譜儀在無損檢測方面,具有其他剖析技能無法比較的長處,應(yīng)用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側(cè)技能的一個主要使用范疇,X熒光光譜儀根據(jù)有手持和臺式兩種,所采用的都是X熒光光譜儀的原理,X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,根據(jù)各元素的特征X射線的強度,也可以獲得各元素的含量信息。

X熒光光譜儀是一種較新型的可以對多元素進行同時測定的儀器,在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(即X熒光),波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

X熒光光譜儀根據(jù)其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀(波譜儀,WDXRF)和能量色散型X熒光光譜儀(能譜儀,EDXRF),我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器,X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,檢出限到2pg。

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