納米級紅外光譜:nanoIR 納米紅外光譜儀

從宏觀、亞微米到納米尺度的紅外光譜

nanoIR 納米紅外光譜儀：

布魯克公司是從宏觀、亞微米到納米尺度紅外光譜（nanoIR）領域的世界。在納米尺度下的物理和化學性質(zhì)等測量方面，我們致力于為聚合物、二維材料、材料科學、生命科學和微電子工業(yè)等多個領域提供創(chuàng)新的產(chǎn)品和解決方案。

Anasys 納米紅外光譜儀（nanoIR) 已被多所大學、國家實驗室和的化學/材料公司所采用。憑借高影響力和不斷增長的研究成果，通過廣大客戶的實際應用，納米紅外光譜儀表現(xiàn)出了良好的易用性和高效性。

布魯克納米紅外光譜儀Anasys nanoIR3-專業(yè)級

產(chǎn)品介紹

10nm 空間分辨率化學成像和光譜

高性能納米級 FTIR 光譜

只有 nanoIR3-s 能夠提供：

高性能納米級 FTIR 光譜

高性能紅外近場光譜，采用目前的納米紅外激光源

納米級 FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成

適用于光譜和化學成像的多芯片 QCL 激光源

點光譜技術

POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個波長的光譜分析和高分辨光學成像。nanoIR3-s讓測試更加簡單：

·在 AFM 圖像中選擇要測量的特征

·測量樣品的波譜，選擇感興趣的波長

·采集高分辨光學屬性圖

根據(jù)對多個波長的干涉圖的快速測量，獲得空間分辨率達到 10nm 的振幅和相位圖像實現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于的互補性紅外光譜分析。

支持全系列掃描探針顯微鏡模式

Contact Mode（接觸模式）

Tapping Mode（輕敲模式）

Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）

Phase Imaging（相位成像）

Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

Conductive Atomic Force Microscopy (導電原子力顯微鏡)

Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)

Force Curve Spectroscopy（力曲線）

Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）

Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）

SThM（掃描熱顯微鏡）

Nano-TA（納米熱分析）

LCR（洛倫茲納米力學分析）