重慶直銷日本理研，固定式大氣光電子能譜分析儀重慶直銷日本理研，固定式大氣光電子能譜分析儀
重慶直銷日本理研，固定式大氣光電子能譜分析儀
功函數(shù)的電離電勢(shì)可以在大氣中進(jìn)行測(cè)量
，MAX180㎜×樣品的180㎜可以測(cè)量
，25個(gè)樣本的連續(xù)測(cè)量可以
用于AC系列的原理和特征
重慶直銷日本理研，固定式大氣光電子能譜分析儀
重慶直銷日本理研，固定式大氣光電子能譜分析儀
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)
| 產(chǎn)品類別 | 固定式 |
|---|---|
| 要檢測(cè)的氣體 | 功函數(shù)電離勢(shì) |
| 檢測(cè)原理 | 低能電子計(jì)數(shù)法 |
| 檢測(cè)范圍 | 3.4至6.2 eV（364至200 nm） |
| 各種認(rèn)證 | （德國）RIKEN開發(fā)的產(chǎn)品PAT。編號(hào)3481031 |
| 電源 | AC 100 V至240 V 50/60 Hz 5 A（*大值） |
| 外部尺寸/質(zhì)量 | 【光源部分】 約470（W）×500（H）×300（D）mm約35 kg [測(cè)量部分] 約600（W）×500（H）×380（D）mm約50 kg |
| 工作溫度和濕度范圍 | 15至35℃60％RH或更低 |
工作功能的測(cè)量·電離勢(shì)
將解釋功函數(shù)的測(cè)量·電離電勢(shì)。
當(dāng)紫外線照射在樣品表面上時(shí)，發(fā)射的光電子的數(shù)量根據(jù)紫外線的能量而變化。
如在A中，當(dāng)紫外線能量小時(shí)，不發(fā)射光電子。
另一方面，當(dāng)紫外光的能量像B一樣足夠大時(shí)，價(jià)帶中的電子被激發(fā)到高于真空能級(jí)的能級(jí)并發(fā)射光電子。
因此，光電發(fā)射的閾值能量是@，即真空能級(jí)與價(jià)帶頂部能量之間的差值。如果價(jià)帶頂部的能量與金屬的費(fèi)米能級(jí)相匹配，則光電子發(fā)射的閾值能量是功函數(shù)。
當(dāng)價(jià)帶頂部的能量和費(fèi)米能級(jí)像半導(dǎo)體一樣不同時(shí)，光電發(fā)射的閾值能量是電離電位。
圖。金屬/半導(dǎo)體的帶圖，功函數(shù)，電離勢(shì)
圖。功函數(shù)/電離勢(shì)的測(cè)量示例
通過使用AC-2或AC-3，您可以測(cè)量大氣中的功函數(shù)和電離勢(shì)。
