設(shè)備特點
提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，采用氣動控制，轉(zhuǎn)換時間短，溫度恢復(fù)時間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，采用兩箱法，提高了工作室的溫度均勻性，但試件一直處于動態(tài)，工作室不能留有測試孔，因此不能帶電、帶信號、帶氣源測試
新一代外觀設(shè)計，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定，運(yùn)行更好，維護(hù)更方便，備有好的萬向滾輪，方便在實驗室內(nèi)移動。
超大觸摸屏操作，外觀更加簡潔大方，操作更加容易，設(shè)定值實際值實時顯示。
真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計，飛利浦高亮度照明，加熱無霧氣
為編程和文檔處理提供更多的接口選項，記錄量大：SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印，大倉有紙無紙記錄等選配
可信賴性高：主要配件選配專業(yè)廠商，確保提高整機(jī)可信賴性
實時監(jiān)控
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法
GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗
其他
環(huán)境溫度：(環(huán)境溫度+5~+25℃)
安全：短路保護(hù)、超溫保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù)、相序缺相保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)
附件標(biāo)準(zhǔn)配置
照明燈：LED照明
移動腳輪：4
通訊：SD卡/USB/CF/以太網(wǎng)，按儀表選配
