| 產(chǎn)品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時(shí)間 | 備注 | |
| MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | ||
| MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
| MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度10℃時(shí) | ||
| NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度5℃時(shí) | ||
| GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | ||
| GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 | ||
| 筆記型計(jì)算機(jī) | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測(cè)試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱（Cold & Hot Shock Test Chamber）常用于測(cè)試材料和設(shè)備在惡劣溫度變化（如冷熱交替）的環(huán)境下，是否會(huì)出現(xiàn)由于熱脹冷縮產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)損壞，特別是在一些對(duì)溫度變化敏感的電子元件、機(jī)械部件和材料中。這個(gè)測(cè)試常見于高中端電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天設(shè)備、塑料及橡膠材料的質(zhì)量控制中，目的是確保這些材料或設(shè)備在使用過程中不會(huì)因溫度變化而失效。
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測(cè)試原理
冷熱沖擊試驗(yàn)主要是通過模擬材料或產(chǎn)品經(jīng)歷快速的溫度變化，以觀察其在惡劣溫度變化下的熱脹冷縮特性。冷脹熱縮指的是材料因溫度變化而發(fā)生膨脹（熱脹）或收縮（冷縮）的物理現(xiàn)象。冷熱沖擊試驗(yàn)通過快速的溫度交替，產(chǎn)生惡劣的應(yīng)力，導(dǎo)致材料表面或內(nèi)部發(fā)生微裂紋、變形、破裂等結(jié)構(gòu)性損壞，從而測(cè)試其抗沖擊能力和耐久性。
在進(jìn)行冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測(cè)試時(shí)，通常會(huì)進(jìn)行如下操作：
快速降溫：將試樣迅速冷卻到低溫區(qū)，通常低溫為-40°C、-55°C、-70°C等，具體取決于測(cè)試要求。
快速升溫：然后快速將試樣加熱至高溫區(qū)，通常為85°C、100°C、150°C等。
溫度循環(huán)：在低溫和高溫之間快速切換，以模擬產(chǎn)品在使用過程中經(jīng)歷的實(shí)際溫度波動(dòng)。每一個(gè)循環(huán)會(huì)增加材料的熱膨脹和收縮壓力，模擬真實(shí)環(huán)境中的冷熱交替。
通過這一過程，試驗(yàn)箱檢測(cè)材料或產(chǎn)品是否會(huì)出現(xiàn)裂紋、破損、變形、功能失效等結(jié)構(gòu)性損害。
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測(cè)試的作用和意義
材料可靠性測(cè)試：通過模擬惡劣溫度變化，評(píng)估材料在實(shí)際使用過程中由于熱膨脹和收縮造成的性能變化，進(jìn)而判斷其耐用性。例如，一些塑料、橡膠或金屬材料在頻繁的溫差變化下容易發(fā)生裂紋或變形，影響使用壽命。
產(chǎn)品耐候性測(cè)試：對(duì)于一些戶外使用的產(chǎn)品（如汽車零件、建筑材料、電子設(shè)備等），冷熱沖擊測(cè)試幫助評(píng)估它們?cè)诒┞队诟邷睾偷蜏丨h(huán)境下的可靠性和壽命。
電子元件測(cè)試：電子元件在快速的冷熱交替中可能會(huì)因焊接點(diǎn)、芯片等內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生微裂紋或脫落，導(dǎo)致產(chǎn)品失效。通過冷熱沖擊測(cè)試可以有效模擬這些惡劣情況，確保電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
質(zhì)量控制與改進(jìn)：通過對(duì)結(jié)構(gòu)損壞的測(cè)試，生產(chǎn)商可以發(fā)現(xiàn)材料和工藝中的缺陷，進(jìn)行針對(duì)性的改進(jìn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量和耐久性。
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測(cè)試的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
冷脹熱縮測(cè)試通常遵循一定的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)試溫度范圍、溫度變化速率、測(cè)試周期等。常見的標(biāo)準(zhǔn)包括：
IEC 60068-2-14（國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)）：規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)條件下的冷熱沖擊試驗(yàn)方法。
MIL-STD-883（美國(guó)JUN用標(biāo)準(zhǔn)）：針對(duì)電子元件的環(huán)境測(cè)試要求。
JIS Z 2346（日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)）：適用于電子產(chǎn)品的冷熱沖擊測(cè)試。
GB/T 2423.22（中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)）：為電子產(chǎn)品和元件提供冷熱沖擊試驗(yàn)的測(cè)試方法。
冷脹熱縮測(cè)試箱的工作原理與特點(diǎn)
溫度控制系統(tǒng)：冷熱沖擊試驗(yàn)箱的核心部分通常包括高溫系統(tǒng)和低溫系統(tǒng)。高溫系統(tǒng)通常使用電加熱器，低溫系統(tǒng)則使用壓縮機(jī)或液氮進(jìn)行降溫。這些系統(tǒng)需要非常精確的溫度控制系統(tǒng)，以確保溫度快速變化且保持穩(wěn)定。
溫度變化速率：冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠提供快速的溫度變化速率，通常達(dá)到5°C~10°C/分鐘，一些惡劣設(shè)備甚至能夠達(dá)到15°C/分鐘或更快?？焖俚臏囟茸兓瘯?huì)加速材料的熱膨脹和收縮，從而更好地模擬實(shí)際環(huán)境條件。
快速轉(zhuǎn)換：為了達(dá)到快速的溫度轉(zhuǎn)換，試驗(yàn)箱的冷熱區(qū)通常是獨(dú)立的，并且能夠迅速切換。試驗(yàn)箱內(nèi)的樣品架或夾具可能配有自動(dòng)進(jìn)出機(jī)制，確保試驗(yàn)過程的高效性。
溫度范圍：冷熱沖擊試驗(yàn)箱的溫度范圍一般從-70°C至+150°C不等，部分惡劣設(shè)備甚至可以達(dá)到更廣泛的溫度范圍。
測(cè)試周期：測(cè)試周期通常為幾小時(shí)到幾天不等，具體時(shí)間取決于測(cè)試需求以及試樣的特性。
測(cè)試后的評(píng)估
測(cè)試結(jié)束后，通過目視檢查、顯微鏡檢查、X射線或CT掃描等方法，評(píng)估試樣是否出現(xiàn)了裂紋、斷裂、變形等結(jié)構(gòu)損壞。同時(shí)，還可以通過測(cè)試前后的性能變化，判斷材料在冷熱循環(huán)后的物理性能變化，例如硬度、強(qiáng)度、導(dǎo)電性等。
結(jié)論
冷脹熱縮結(jié)構(gòu)損壞測(cè)試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱是評(píng)估材料和產(chǎn)品在冷熱交替環(huán)境下結(jié)構(gòu)損壞的重要設(shè)備，尤其在電子、機(jī)械、航空航天等領(lǐng)域中具有廣泛應(yīng)用。通過冷熱沖擊測(cè)試，生產(chǎn)商能夠有效提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性，避免因惡劣環(huán)境造成的早期失效。同時(shí)，正確使用和維護(hù)冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，為企業(yè)提供更好的質(zhì)量控制支持。
