SPJD-1200型四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)
SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓱?yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、 提供多方位的測量功能和多元化的價(jià)位, 擁有更出色的測量精度:匹配阻抗分析儀是采用當(dāng)前自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
2、采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置。自動(dòng)升溫降溫，測試功能強(qiáng)大
3、四通道同時(shí)測量,提高效率,增加對比測試的精度;
材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;
溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能；
軟件：采用C#語言編寫，可視化程度高，自動(dòng)測試，同時(shí)顯示四通道的測試數(shù)據(jù)，并圖形化。
4、專用高頻測試線纜，更適合高頻測量：測試引線使用4端子對配置以擴(kuò)展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時(shí)測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。
5、可以實(shí)現(xiàn)多種材料不同功能的測試，高溫介電，電阻測試等
探測采用高精度鉑金電極，抗干擾能力強(qiáng)，測量精度高
高溫爐加熱均勻，可實(shí)現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測試
介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數(shù)可實(shí)時(shí)測試
專用的分析和測試軟件，可以自行定義，保存數(shù)據(jù)
主要技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍： -190℃-1000℃
2、測溫精度： 0.1℃
3．升溫速度： 1—20℃/min
4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式
5、通訊接口： RS-485
8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金
9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層
10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層
11、保護(hù)電極： 帶保護(hù)電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響
12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩
13、夾具升降控制： 帶程序和手動(dòng)控制，可更換夾具的電動(dòng)升降裝置
14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致
15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm
16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm
17、軟件功能：自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
18、測量方案： 提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）
20、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進(jìn)行測量
21、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具
23、測試頻率：20HZ-10MHZ
24、測試電平:100mV—2V
25、分辨率：1MHZ
26、輸出阻抗: 100Ω
27、測試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%
29、顯示:液晶顯示
30、參數(shù)測量：多功能圖形和參數(shù)測量
31、接口方式: RS232C或HANDLER
測試儀器：
高溫介電測試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、
Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀，其他品牌型號也可定制開發(fā)
Agilent E4990A
· 五種頻率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級
· ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測量精度
· 25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測量范圍（10% 測量精度范圍）
· 測量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復(fù)合 Z、復(fù)合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc
· 內(nèi)置直流偏置范圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA
· 10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線
· 數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測試
Agilent E4294A
覆蓋了很寬的測試頻率范圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評估器件。測試信號電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。先進(jìn)的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測量時(shí)的測量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計(jì)、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強(qiáng)大工具。電路設(shè)計(jì)和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。
Agilent E4980A
基本精度為0.1%
測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量(供選用)
Wayne Kerr 6500P/B
簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
30 ms超高速測試速度
等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測試，量測到0.01mΩ
0.05%基本精確度
可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias
可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級 ，最高升級到120MHz
直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)
具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺
Tonghui TH29系列
測試頻率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz
基本精度:0.05%
測試速度:最快5.6ms/次
測試原理:自動(dòng)平衡電橋
高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測試量程配置
