LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀是萊森光學(xué)（LiSen Optics）一款具有革命性寬光譜微型光譜儀，采用了進(jìn)口核心光譜模塊，控制電路采用微處理技術(shù)，實(shí)現(xiàn)雙通道同步測量技術(shù)，真正意義上實(shí)現(xiàn)了200-2500nm全光譜測量，200-1000nm采用了2048像素面陣BT-CCD探測器，紫外可見量子效率高85%，900-1700/1000-2500nm采用了大靶面致冷或非致冷型256/512像元InGaAs 探測器，動(dòng)態(tài)范圍大、靈敏度高，同時(shí)采用紅外熱像素漂移校準(zhǔn)，保證光譜在紅外波段受外界熱環(huán)境影響小，測試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定性。
LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀可根據(jù)用戶應(yīng)用需求配置萊森光學(xué)不同的光學(xué)附件，透反射測量需要配置萊森光學(xué)的紫外增強(qiáng)鹵燈光源、光纖、準(zhǔn)直鏡頭、透射/反射積分球，對于輻射測量需要配置積分球或余弦輻射探頭或視場角鏡頭進(jìn)行輻射通量μW、輻亮度μW/cm2/sr、輻照度μW/cm2（光譜儀帶積分球或余弦輻射探頭或視場角鏡頭輻射標(biāo)定溯源到NIM）。
主要技術(shù)指標(biāo)
典型案例
2 拉曼光譜測量
拉曼測量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強(qiáng)得多，拉曼光譜儀通常測定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測量相對熒光信號會(huì)更弱一個(gè)數(shù)量級，通常我們在針對微弱拉曼信號測量我們要進(jìn)行表面拉曼增強(qiáng)（SERS）的方法來提高拉曼信號SERS。
LiSpec-UV100 高速高靈敏度光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點(diǎn)，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進(jìn)行對微弱光譜信號的拉曼測量應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于食品安全、化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、生物及醫(yī)學(xué)等光學(xué)方面領(lǐng)域，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；還可以應(yīng)用于刑偵中對的檢測及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。
2 顏色測量
2 輻射測量
輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標(biāo)準(zhǔn)。輻射測量一般要通過已知光譜能量分布的標(biāo)準(zhǔn)光源，對光譜儀系統(tǒng)進(jìn)行輻射標(biāo)定，才能通過量化參數(shù)進(jìn)行輻射測量。輻射能量與人眼視覺相關(guān)聯(lián)（光度學(xué)），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測量定義輻射度學(xué)參數(shù)、光度學(xué)參數(shù)、色度學(xué)參數(shù)。輻射度學(xué)參數(shù)主要以輻照度μW/cm2、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數(shù)µMol/s/m2，µMol/m2，µMol/s和µMol，光度學(xué)參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強(qiáng)度Candela，色度學(xué)參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等。
l輻照度測量
lLED顏色測量
2吸光度測量
光譜儀測量吸光度的方法是將某一波長的平行光通過一塊平面平行物體，對透過物體的光束進(jìn)行檢測。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測的入射光的強(qiáng)度要高于透過樣品的光強(qiáng)。吸光度被廣泛運(yùn)用于液體和氣體的光譜測量技術(shù)中，可以對物質(zhì)進(jìn)行定量鑒別或指紋認(rèn)證等，還可以將該應(yīng)用集成到工業(yè)應(yīng)用環(huán)境和客戶所關(guān)注的測試中。
使用萊森光學(xué)模塊化光譜儀，可針對特定的吸光度測量來選擇不同波長范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實(shí)驗(yàn)室或者現(xiàn)場，對整套光學(xué)測量裝置進(jìn)行快速配置?？梢曰谌R森光學(xué)優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進(jìn)行靈活易用的搭配，針對不同的吸光度試驗(yàn)搭配出多種配置選擇。
l液體吸光度
l氣體吸光度
2薄膜測量
薄膜測量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學(xué)薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學(xué)函數(shù)被計(jì)算出薄膜厚度。對于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計(jì)算出它的物理厚度。測量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達(dá)1 nm。薄膜測量應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時(shí)需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領(lǐng)域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。
隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴(yán)格，利用光纖光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的透/反射光譜的測量技術(shù)也日益成熟。透/反射光譜測量是光譜測量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測量軟件等設(shè)備。對于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。
光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學(xué)的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點(diǎn)，已經(jīng)成功的廣泛應(yīng)用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測試。萊森光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設(shè)備，利用這些配置豐富的設(shè)備，即可搭建各種常見的光譜測量系統(tǒng)。
l反射測量
反射測量（探頭）
反射測量（積分球）
l透射測量
2熒光光譜測量
熒光物質(zhì)在特定波長的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測量靈敏度高、選擇性強(qiáng)、樣品用量少、方法簡便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點(diǎn)，所以在工程應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用，如在食品加工過程中用于食品安全的監(jiān)測、生物醫(yī)學(xué)中用于病變的熒光診斷、地質(zhì)學(xué)中用于石油礦物勘探、
土壤礦物成分的測定以及物質(zhì)中微量元素的檢測等等。
熒光光譜測量通常需要高靈敏度的光譜儀。對于大多數(shù)熒光應(yīng)用來說，產(chǎn)生的熒光能量只相當(dāng)于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長長，而且一般都是在各個(gè)方向上輻射能量的散射光。萊森光學(xué)光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長范圍和分辨率設(shè)計(jì)，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測量系統(tǒng)。
