DDR5/DRAM/DDR5 RCD/DDR5 DB/CPU DDR5物理層高速多通道Tx/Rx信號(hào)質(zhì)量測(cè)試測(cè)試儀及協(xié)議功能性驗(yàn)證測(cè)試解決方案

DDR5 RCD/DB測(cè)試解決方案，DDR5 DRAM測(cè)試解決方案，DDR5誤碼測(cè)試儀，DDR5 DIMM測(cè)試解決方案，DDR5接收機(jī)/發(fā)射機(jī)測(cè)試解決方案

針對(duì)LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的誤碼測(cè)試儀（BERT）, 適合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理層接收機(jī)信號(hào)質(zhì)量完整性測(cè)試及針對(duì)DDR5協(xié)議層之功能性驗(yàn)證. 目前DDR 4/5 DB/RCD高速多通道碼型產(chǎn)生器有廣泛的應(yīng)用在各大DDR5相關(guān)的廠商中，完整的支持DDR5 DRAM Test Suite，DDR5 R-DIMM Test Suite， DDR5 RCD Test Suite，DDR5 DB Test Suite，LPDDR5 DRAM Test Suite等等。代表客戶包括： Intel, AMD, IDT, Rambus, Montage, Micron，Hynix等等。

DDR 4/5 DB/RCD高速多通道碼型產(chǎn)生器產(chǎn)品特色：

強(qiáng)大的硬件能力，提供寬廣且連續(xù)的操作頻率，單臺(tái)硬件設(shè)備可同時(shí)支持16 Tx/16 Rx測(cè)試，每個(gè)信道可達(dá)12.5Gsps。單機(jī)分別提供可獨(dú)立控制的信號(hào)產(chǎn)生器與碼型偵測(cè)器。

靈活的物理層控制能力，各通道可以獨(dú)立控制并提供抖動(dòng)注入(Jitter Injection)、相位調(diào)整(Skew)、電壓擺幅控制以及時(shí)序調(diào)整的能力，大幅提高測(cè)試完整度。

提供多種協(xié)議模型，可應(yīng)用在DRAM、DB、RCD與Module等產(chǎn)品開(kāi)發(fā)。

輕巧且可攜帶的體積，在實(shí)驗(yàn)桌上即可以完成系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

彈性且靈活的Python軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境，可搭配控制循環(huán)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試變量的自動(dòng)化測(cè)試并自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試報(bào)告。