K-7000性能優(yōu)勢
1、X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、
以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌上型電腦),從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色,并具有的升級潛力。
2、使用了的和多用途的x射線資料模式
采用康普頓常態(tài)化校正方法,可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來進(jìn)行定量分析,而不需要進(jìn)行專門的校正。
3、基本參數(shù)分析:
采用半定量分析方式,適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。
4、實驗校正法:
利用“校正曲線”進(jìn)行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
5、配備了光譜高點識別軟體,可在顯示幕查看光譜
6、對比光譜,參考內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)完成比較分析。
K-7000規(guī)格表
主要配置 | 1礦石分析儀主機1套:2標(biāo)準(zhǔn)樣品1個; 3原裝可充電鋰電池2塊;4充電座及電源線; 5U盤(32G)1個;6加強型聚丙烯膜5片; 7標(biāo)準(zhǔn)手提防潮防震箱一只。 |
標(biāo)配模式 | 礦石模式;選配模式:合金分析模式、土壤分析模式 |
自診斷功能 | 儀器可自動對硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進(jìn)行診斷,并會生成日志,便于快速排查出故障 |
操作系統(tǒng) | Window CE 6.0操作系統(tǒng),安全、放心 |
測試方法 | 基本參數(shù)法,支持經(jīng)驗系數(shù)法修正點觸或扣動扳機控制測試開始,測試過程無需長扣扳機。根據(jù)客戶需求,也可以一直按著扳機測試樣品。 |
濾光片 | 配置8個濾光片,可根據(jù)測試元素自動切換: |
激發(fā)源 | 大功率微型直板X射線管,W靶材,4W大功率X射線管,管電壓50KV,電流可達(dá)100μA;采用KMX技術(shù),更高X射線計數(shù)率,超低電子噪聲設(shè)計。每次測試前,不需要外部標(biāo)樣,自動能量校準(zhǔn)核查; |
探測器 | 美國Moxtek Si-pin (6 mm2)<180ev |
檢測元素 | 38個標(biāo)準(zhǔn)元素:La,Ce, Pr,Nd, Sm, Eu, Gd,Y,Ti,V,Cr,Mn, Fe,Co, Ni,Cu,Zn,As, Se, Sr,Rb, Zr,Nb,Mo,Te, Ag,Cd,Sn,Sb,Ba, Ta,W,Au, Hg,TI,Pb,Bi,U。根據(jù)用戶需求添加其它元素。 |