超低能鍺探測(cè)器特征
• 光譜從 300 eV 到 300 keV
• 與硅（Li）和SDD相比效率高
• 出色的分辨率，高達(dá)非常高的計(jì)數(shù)率
• 高峰值/背景比
超低能鍺探測(cè)器描述
Mirion Ultra-LEGe探測(cè)器將Ge探測(cè)器的性能范圍擴(kuò)展到幾百電子伏特，提供曾經(jīng)被認(rèn)為半導(dǎo)體探測(cè)器無法實(shí)現(xiàn)的分辨率和峰背景比。Ultra-LEGe保留了鍺探測(cè)器固有的高能效，因?yàn)樵有驍?shù)（Z）很高，厚度相對(duì)較高（5-10毫米），因此涵蓋了極寬的能量范圍。下圖2中的圖表將5 mm厚鍺探測(cè)器的X射線光譜高能側(cè)的效率與典型的硅基探測(cè)器進(jìn)行了比較。
傳統(tǒng)的Ge探測(cè)器，包括那些專門為低能量制造的探測(cè)器，在低于3 keV時(shí)，峰值形狀和效率都很差。這種特性一度被認(rèn)為是Ge的基礎(chǔ)，因此禁止在大多數(shù)分析X射線應(yīng)用中使用Ge探測(cè)器。Mirion開發(fā)了探測(cè)器制造技術(shù)，消除了這些問題。由此產(chǎn)生的探測(cè)器，Ultra-LEGe單元，提供鍺的固有效率和分辨率優(yōu)勢(shì)，而沒有傳統(tǒng)鍺探測(cè)器的缺點(diǎn)。
超低能鍺探測(cè)器應(yīng)用
• 6R?
• XAS （XAFS， EXAFS， XANES）
• X射線光譜
關(guān)于我們
深圳市展業(yè)達(dá)鴻科技有限公司成立于2012年，是一家從事醫(yī)療質(zhì)控儀器,儀表,影像模體銷售和訂制的公司,可為科研、教育、航空、制造業(yè)等領(lǐng)域提供完整可靠地解決方案。擁有多個(gè)國(guó)際的資質(zhì)，數(shù)千種進(jìn)口檢測(cè)儀器儀表產(chǎn)品及配件；目前本公司的產(chǎn)品應(yīng)用于各醫(yī)療制造生產(chǎn)企業(yè)、科研院所、高等院校、、疾病預(yù)防控制中心、衛(wèi)生監(jiān)督所、出入境檢驗(yàn)檢疫、醫(yī)學(xué)院及各附屬醫(yī)院等領(lǐng)域。公司目前處于快速成長(zhǎng)發(fā)展階段，主要產(chǎn)品包括：醫(yī)學(xué)信號(hào)模擬器，醫(yī)學(xué)測(cè)試分析儀器，電子儀器儀表，輻射檢測(cè)儀器，氣體分析與檢測(cè)，客戶需求定制服務(wù)等。 我公司本著“誠(chéng)信，用戶至上”的經(jīng)營(yíng)理念，為廣大用戶提供各類質(zhì)量?jī)?yōu)良、價(jià)格合理的檢測(cè)設(shè)備。同時(shí)，給客戶提供良好的售前及售后服務(wù)，在友好的合作中謀求共同發(fā)展。
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