儀器特點
| 波長掃描： | 可掃描320～1100nm內(nèi)任意波長范圍的樣品光譜特性 可對光譜曲線進行峰谷檢測、圖譜擴展等數(shù)據(jù)處理 |
| 定波長測量： | 可同時進行9個波長點的樣品測量 |
| 定量分析： | 可作9個標準樣品的標準曲線 具有動力學測量功能，可進行活性計算 配有打印機及RS-232接口 可扣除比色皿誤差及可用100mm比色皿 采用LCD大面積液晶板顯示，全中文菜單 |
| 技術指標及基本參數(shù) | ||
| 波長范圍：320～1100nm | 測光方式：T、A、C | 電源：AC：220V/50Hz 110V/60Hz |
| 光譜帶寬：2.0nm | 光度范圍：-0.3～3A | 功率：140W |
| 波長準確度：±0.5nm | 雜散光：≤0.3%τ(360nm NaNO2溶液) | 儀器尺寸：487*388*185mm |
| 波長重現(xiàn)性：0.3nm | 基線平直度：±0.004A | 主機重量：15kg |
| 透射比準確度：±0.5%τ(0～99%τ) | 穩(wěn)定性：0.004A/h(500nm預熱后) |
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| 透射比重復性：±0.3%τ | 檢測器：進口硅光二極管 |
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