器件好壞判別:當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí),儀器可判斷其好壞。 ◆器件型號(hào)判別:當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷 其型號(hào)。 ◆器件老化測(cè)試:當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 ◆器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能一致,引腳排列一致的器件型號(hào)。 ◆電壓調(diào)節(jié)選擇:3V、5V、9V、15V。 ◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:RHA-ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
產(chǎn)品特點(diǎn): |
◆器件好壞判別:當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí),儀器可判斷其好壞。 ◆器件型號(hào)判別:當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷 其型號(hào)。 ◆器件老化測(cè)試:當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 ◆器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能一致,引腳排列一致的器件型號(hào)。 ◆電壓調(diào)節(jié)選擇:3V、5V、9V、15V。 ◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改:ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 ◆EPROM、EEPROM器件讀入:ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入 并保存。 ◆EPROM、EEPROM器件寫入:ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM 器件中,并自動(dòng)校驗(yàn)。 ◆ 新增RS232接口,與PC通訊,互送資料。 |
技術(shù)規(guī)格: |
1、CMOS40系列:103種。 2、CMOSMCI40系列:103種。 3、CMOS45系列:60種。 4、CMOSMCI45系列:60種。 5、光耦合器系列:133種。 6、TTL74/54系列:714種。 8、數(shù)碼管系列: 0.5寸共陽[001];共陰[002];0.3寸共陽[003];共陰[004];0.7寸共陽[005];共陰[006]. 7、TTL75/55系列:82種。 9、常用RAM系列: 6264 62256 60256 628128 24C01 24C02 24C04 24C08 24C16 24C32 27C010 29C256 29C010 24C64 93C46 93C56 93C66 28C256 10、EEPROM系列: 2864 28256 28040 29101 11、EPROM系列: 2764 27128 27256 27512 12、微機(jī)外圍電路系列: Z80CTC(802) 13、常用單片機(jī)系列: 89C1051 89CH 87C52 89C51 89C 14、其他系列: 2633 339 192 293 393 555 556 324 22100 88323 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162)MC14163 (40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD506 |
仟漁 | / |