*的非破壞性電性故障定位設(shè)備 可以直接快速地透過(guò)IC正面或背面來(lái)找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測(cè)器在IC通電情況下探測(cè)缺陷位置熱輻射的分布,以此定位失效點(diǎn)。 | |
LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統(tǒng)特色:
? 具有市場(chǎng)上*高靈敏度的熱源偵測(cè)系統(tǒng)
? 鎖相功能,大幅提高信噪比
? 熱靈敏度0.1mK
? 快速交付
LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統(tǒng)規(guī)格:
高電壓范圍
3000V
高電流范圍
3A
鎖相幀頻 1Hz-25Hz
鏡頭組合 1x,2x,8x,廣角,可定制
廣角范圍
33mm * 26mm
相關(guān)案例:
失效器件一 | | |
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IC影像+Thermal Emission (高閾值熱點(diǎn)顯示) | IC影像+Thermal Emission (低閾值) | 振幅圖 |
失效器件二 | | |
IC影像+Thermal Emission |
振幅圖 | |