一款*的非破壞性電性故障定位設(shè)備 它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布,以此定位失效點(diǎn)。 除了IC與Package以外,還可應(yīng)用于大面積的產(chǎn)品,如PCB、面板等。 | |
LUXET Thermo 50非制冷型中紅外顯微系統(tǒng)特點(diǎn):
? 非制冷高性價(jià)比
? 自主研發(fā)
? 鎖相功能,大幅提高信噪比
? 熱靈敏度1mK
? 輕便易攜帶
? 可配探針臺,高壓輸出方案
? 快速交付
LUXET Thermo 50非制冷型中紅外顯微系統(tǒng)規(guī)格:
鏡頭組合
1x,2x可選
紅外機(jī)芯非制冷
NETD=60mK
鎖相幀頻
1Hz-25Hz
視野范圍
可對焦至無窮遠(yuǎn)處
相關(guān)案例:
IC影像+Thermal Emission 振幅圖
失效器件一