Park Systems原子力顯微鏡 XE-15
儀器簡介:
Park XE-15具有全面的樣品兼容性。其多種樣品臺設(shè)計(jì),為不同尺寸、形狀、數(shù)量的樣品提供了方便可靠的測試環(huán)境。解耦合的閉環(huán)XY掃描器,消除了彎曲效應(yīng)誤差,提供了的線性度。真正的非接觸掃描模式,擴(kuò)大了適合樣品種類,同時極大地延長了探針壽命,降低了使用成本。
Park Systems原子力顯微鏡 XE-15技術(shù)參數(shù):
掃描器
XY掃描器
柔性制導(dǎo)閉環(huán)控制單模塊掃描器
掃描范圍100μm*100μm(可選50μm*50μm)
平面偏移度:<2nm(40μm*40μm掃描)
Z掃描器
柔性制導(dǎo)強(qiáng)力掃描器
掃描范圍12μm(可選25μm)
共振頻率:>5kHz
表面成像噪聲:0.03nm
樣品臺
樣品臺種類:16位點(diǎn)樣品臺/150mm直徑真空吸附臺(可選200mm直徑真空吸附臺)
樣品尺寸: 150mm*150mm*20mm
樣品重量:zui大500g
樣品臺移動范圍:150mm*150mm(可選200mm*200mm)
主要特點(diǎn):
一、創(chuàng)新的多位點(diǎn)樣品臺設(shè)計(jì),提供工作效率
●一次操作zui多可以掃描16個樣品
●樣品安放簡單,掃描迅速
●極大提高了數(shù)據(jù)的精確性和重復(fù)性
二、支持超大樣品,滿足業(yè)界發(fā)展需要
●zui大支持200 mm晶圓,滿足用戶目前和今后的需要
●滿足半導(dǎo)體相關(guān)用戶實(shí)際需要的專門設(shè)計(jì)
三、豐富的功能模式選擇
●完善支持各種SPM功能
●支持多種選配測量模式
●支持各種可選配件,擴(kuò)展性能*