產(chǎn)品介紹
美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品特點：
· 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
· 粒徑通道用戶可調(diào)
· 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，最多16通道
· 顆粒物粒徑感應(yīng)范圍：0.5至25mm
· 檢測濃度范圍：0-3000 個/cm3
· 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面
· ISO 21501-01/04要求
· 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度
· 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學(xué)分析
· 電池電量可供20小時的操作
· 最多可存儲30000個數(shù)據(jù)
· 記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
3,000個/cm3 （3,000,000個/L）
質(zhì)量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：最多16通道，用戶可調(diào)
