美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品簡介
TSI3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量?;赥SI40年氣溶膠儀器設(shè)計的經(jīng)驗,
本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng),從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。
同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。
• 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
• 粒徑通道用戶可調(diào)
• 檢測粒徑范圍:0.3-10微米,最多16通道
• 顆粒物粒徑感應(yīng)范圍:0.5至25 mm
• 檢測濃度范圍:0-3000 個 /cm3
• 彩色觸摸屏,直觀的用戶界面
• *ISO 21501-01/04要求
• 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度
• 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學(xué)分析
• 電池電量可供20小時的操作
• 最多可存儲30000個數(shù)據(jù)
• 記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
3,000個/ cm3 (3,000,000個/L)
質(zhì)量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :最多16通道,用戶可調(diào)