簡(jiǎn)介︰
的A.S & Co產(chǎn)品系列SpectraVision 4,軟件模塊包含多種硬件控制,如PMT,光譜儀,成像攝像頭,光源燈;可以完成標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置的測(cè)試分析,也可以進(jìn)行客戶(hù)自定義的獨(dú)立研究分析。SpectraVision 4進(jìn)行反射率測(cè)量是通過(guò)選擇PMT或者CCD探測(cè)器完成的,可根據(jù)客戶(hù)需要進(jìn)行靈活配置。探測(cè)器直接耦合在光路中,不需要光纖連接,能夠達(dá)到的信號(hào)接收品質(zhì)。可選制冷循環(huán)系統(tǒng),可以極大提高信噪比(S/N)。
產(chǎn)品概述和特點(diǎn)
SpectraVision 4成像模塊是一種新開(kāi)發(fā)的工具,能夠幫助鏡質(zhì)體的測(cè)量?;诂F(xiàn)代成像系統(tǒng)的12-16bit動(dòng)態(tài)范圍視頻攝像頭探測(cè)器,得到原始的成像圖片。同時(shí)能夠記錄下測(cè)量位置的信息。可應(yīng)用到特殊領(lǐng)域,如焦化廠煤質(zhì)分析。快速給出煤品質(zhì)和顆粒度等計(jì)算信息,提供的煤階配比。成像顯示樣品形貌和測(cè)量位置,同時(shí)給出直方圖信息?;陔妱?dòng)控制載物臺(tái)的系統(tǒng),可以自動(dòng)掃描樣品,自動(dòng)分析測(cè)試結(jié)果,輸出測(cè)試報(bào)告。
SpectraVision 4可以在一套軟件中根據(jù)用戶(hù)的實(shí)際需要,提供多種獨(dú)立和功能強(qiáng)大的應(yīng)用模塊。系統(tǒng)可以進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化的鏡質(zhì)體反射率測(cè)量,同時(shí)也可進(jìn)行精密、復(fù)雜的樣品探測(cè),完成反射,透射,熒光光譜分析。
SpectraVision 4地質(zhì)和有機(jī)巖相學(xué)應(yīng)用主要特點(diǎn):
? 鏡質(zhì)體反射率
? 多種有機(jī)質(zhì)成分分布
? 偏振模式
? 顯微熒光光譜
? 成熟度研究
? 色域分析
? 鏡質(zhì)體反射率和熒光光譜相關(guān)研究
? 自動(dòng)成像和工業(yè)、巖相學(xué)圖像測(cè)量
? 波長(zhǎng)精度定標(biāo)和信號(hào)強(qiáng)度動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)
? 自動(dòng)感測(cè)和熒光標(biāo)定
SpectraVision 4系統(tǒng)特點(diǎn)
? 標(biāo)準(zhǔn)546nm波長(zhǎng)反射率測(cè)量;
? 計(jì)算直方圖符合DIN/ISO 標(biāo)準(zhǔn);
? 測(cè)量結(jié)果符合GB/T12937-2008;GB/T 8899-2013;GB/T 15590-2008標(biāo)準(zhǔn)所需測(cè)量要求。
? 統(tǒng)計(jì)參數(shù)如平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差;
? 多組分分布測(cè)量。
根據(jù)顯微鏡能力,SpectraVision 4具有的功能
? 明場(chǎng)、暗場(chǎng)透射模式;
? 明場(chǎng)、暗場(chǎng)反射模式;
? 偏振模式;
? 熒光模式;
? 三維模擬成像。
圖1顯微鏡光照下圖形
圖2通過(guò)circular-difference-interference-contrast(循環(huán)微分干涉對(duì)比)技術(shù),使得三維微觀結(jié)構(gòu)可視化
技術(shù)參數(shù)
光譜范圍 | 220-2100nm |
熒光激發(fā) | 360-546nm |
光源 | 高效能氘鹵復(fù)合光源或氙燈 |
采樣面積 | <1um2 |
光譜分辨率 | 0.8nm |
探測(cè)器 | TE制冷CCD+InGaAs陣列探測(cè)器 |
像素尺寸 | 24umx24um |
積分時(shí)間 | 0-60s |
成像 | 500萬(wàn)像素 |
操作系統(tǒng) | Windows7,Windows8,Windows10 |