華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
鐵電參數(shù)測(cè)試功能
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
PUND 脈沖測(cè)試；
Fatigue 疲勞測(cè)試；
Retention保持力；
Imprint印跡；
Leakage current漏電流測(cè)試；
Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。
壓電參數(shù)測(cè)試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試，也可通過(guò)高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量。
熱釋電測(cè)試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃
介電溫譜測(cè)試功能
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試。
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC
用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。
絕緣電阻測(cè)試功能
高精準(zhǔn)度的電壓輸出與電流測(cè)量，保障測(cè)試的品質(zhì)，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如：陶瓷材料、硅橡膠測(cè)試、PCB、云母、四氟材料電阻測(cè)試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測(cè)試。
高溫四探針測(cè)試功能
符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測(cè)量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃，高阻選件高至10MΩ。
電卡效應(yīng)測(cè)試功能
還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
溫度范圍：-50℃到200℃、熱流時(shí)間范圍：1s-1000s，zui大電壓可達(dá)10kV，
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形。
用戶可選擇不同的配置
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設(shè)備優(yōu)勢(shì)
本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與國(guó)際電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來(lái)更易于擴(kuò)展。更加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。
性能優(yōu)勢(shì)
華測(cè)儀器依托多年高壓控制、測(cè)試方面多年的技術(shù)成果，安全保護(hù)：增加TVS保護(hù)過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)溫等技術(shù)，更加安全與可靠。軟件設(shè)計(jì)：借鑒國(guó)際上等品牌，在測(cè)試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化等方面做了大量的改進(jìn)；測(cè)量精度：與國(guó)際儀器做了大量的測(cè)試對(duì)標(biāo)，與國(guó)內(nèi)航天通力合作；進(jìn)行檢測(cè)計(jì)量。保證數(shù)據(jù)的有效與真實(shí)。
研發(fā)優(yōu)勢(shì)
研發(fā)團(tuán)隊(duì)擁有多領(lǐng)域、多學(xué)科的博士、碩士專業(yè)技術(shù)人員，他們致力于材料電學(xué)、電力電子、信號(hào)、測(cè)控、精密加工方面的研究，并且是掌握材料電學(xué)檢測(cè)技術(shù)專li的科研團(tuán)隊(duì)！自成立以來(lái)獲多方科研機(jī)構(gòu)、大學(xué)試驗(yàn)室支持,聘請(qǐng)多個(gè)院校的專家教授，組建“華測(cè)儀器專家顧問(wèn)團(tuán)”。
定制化服務(wù)
電學(xué)試驗(yàn)室擁有泰克、是德科技國(guó)際品牌大批檢測(cè)設(shè)備；生產(chǎn)制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工中心、超精磨床等一大批生產(chǎn)、加工設(shè)備，ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證，在工裝、夾具定制化方面更加方便、高效。
更優(yōu)xiu的測(cè)試功能
HCTD3000鐵電測(cè)試系統(tǒng)具有寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，性價(jià)比非常高，滿足了用戶追求高性價(jià)的需求。主機(jī)內(nèi)置電壓檔位有±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可選。在±10V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到2MHz；在±500V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到±2kHz。此系統(tǒng)還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電和磁電測(cè)試功能。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV，Premier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV和CV測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、磁電測(cè)試和晶體管特性測(cè)試功能。
標(biāo)準(zhǔn)配置
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率；
PUND 脈沖測(cè)試：zui小脈沖寬度2μs，zui小上升時(shí)間1 μs；Fatigue 疲勞測(cè)試,zui大頻率300kHz；
Retention 保持力測(cè)試；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
Imprint 印跡；
Leakage current 漏電流測(cè)試：100fA to 1A
更多測(cè)試功能
高溫部分通過(guò)近紅外爐實(shí)現(xiàn)zui高可實(shí)現(xiàn)RT~1500°c環(huán)境下測(cè)試低溫部分通過(guò)冷熱臺(tái)實(shí)現(xiàn)可實(shí)現(xiàn)-180~450°c環(huán)境下測(cè)試高、低溫介電溫譜測(cè)試頻率I zui大測(cè)試范圍20HZ-30MHZ。
擴(kuò)展測(cè)試裝置
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
華測(cè)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
