IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀 識(shí)別卡彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀

儀器介紹：

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫(yī)?？?、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列磁卡的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，主要用于大專(zhuān)院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門(mén)、實(shí)驗(yàn)室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶(hù)青睞。

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀 識(shí)別卡彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

該IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1《識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第1部分：物理特性》，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006《識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分：一般特性測(cè)試》及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)：

1.測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

2.測(cè)試周期：1~9999次

3.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

4.正反向各15°，總扭曲角度30°

5.長(zhǎng)邊位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）

6.長(zhǎng)邊位移量為2mm±0.50mm，

7.短邊位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）

8.長(zhǎng)邊位移量為1mm±0.50mm，

9.夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

10.外形尺寸：780×420×220mm

11.儀器重量：約70kg

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