產(chǎn)品技術(shù)指標
Hi-Smarc-Ⅲ-PO激光干涉儀
主要功能:測量平面光學(xué)元件的表面面形和透射光學(xué)元件的綜合波前
a) 類型:菲索干涉原理
b) 口徑:φ25.4mm
c) 顯示方式:CCD+顯示器
d) 光源:半導(dǎo)體激光,波長λ=635nm
e) 測量重復(fù)性:PV優(yōu)于λ/50,RMS優(yōu)于λ/100
f) 平面精度:PV(平面上點到點的差異值又稱峰谷值)優(yōu)于λ/20(635nm/20大約32nm),
g) 主機重量:6.5KG
h) 外形尺寸:260×160×330mm
i) 電源:220V 50HZ
j) 量化測試時間:大約2~3秒/次
分析系統(tǒng)(軟件及計算機)
1、計算機:專用計算機及10寸以上液晶顯示器
2、輸出數(shù)據(jù):
峰谷值(PV)、標準偏差(RMS)、二維等值圖(等高圖)、干涉條紋圖;
域值設(shè)定(OK或NG)、數(shù)據(jù)可保存、可輸出打印測試報告;
開放數(shù)據(jù)輸出格式,方便后續(xù)分析;
3、測量功能
系統(tǒng)在WINDOWS 7或10下運行,允許進行網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)傳輸;
具有干涉圖亮度的軟件調(diào)節(jié)機制;
4、 提供移相器校正軟件,用戶可自行修正移相器位移誤差。
5、 提供軟件升級、維護、售后技術(shù)支持及使用培訓(xùn)、硬件維修;