該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強儀 以及凝聚粒子計數(shù)器 配套使用,且該分析儀工作流程已經(jīng)被化,不但能夠?qū)⑸⒁輷p失降至 ,而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑 分辨率。 產(chǎn)品詳情
特點和優(yōu)勢
分析從1到50nm粒徑的顆粒物
SMPS(掃描電遷移粒徑譜儀)的關(guān)鍵組件
應(yīng)用
顆粒物粒徑測量