Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了新的ＡＦＭ應(yīng)用體驗(yàn)，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便易行。 仍然以市面上應(yīng)用廣泛的AFM大樣品平臺(tái)為基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶(hù)反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進(jìn)行革新。 全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低漂移和低噪音水平， 現(xiàn)在用戶(hù)只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。 Dimension Icon還配備了Bruker技術(shù)ScanAsyst™(號(hào)：US008739309B2   US008646109B2) （自動(dòng)成像參數(shù)優(yōu)化技術(shù)） ，用戶(hù)可以更簡(jiǎn)易、更快捷地獲得重復(fù)性更好的數(shù)據(jù)， 并且降低了對(duì)客戶(hù)操作經(jīng)驗(yàn)和操作水平的要求。 作為目前配置高的AFM，保證客戶(hù)高效完成所需的檢測(cè)任務(wù)。

性能
? *的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開(kāi)環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有高的掃描分辨率。
? 極大地降低噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級(jí)圖像，在輕敲模式下低于30pm
? 熱漂移速率低于200pm/分鐘，真正獲得無(wú)曲圖像無(wú)以倫比的效率

? XYZ閉環(huán)掃描器的新設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。
? 將十年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認(rèn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ健?br>? 高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測(cè)量位置

優(yōu)秀的多功能性
? 針尖和樣品之間的開(kāi)放式空間，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿(mǎn)足不同研究工作的需求
? 硬件和軟件技術(shù)方面的不斷創(chuàng)新，新開(kāi)發(fā)的HarmoniX模式，可以測(cè)量納米尺度上材料性質(zhì)
? 用戶(hù)實(shí)用程序腳本提供半自動(dòng)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析

功能

材料成像:
Icon支持Bruker技術(shù)PeakForce QNM™成像模式，研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時(shí)， 還可以對(duì)樣品進(jìn)行納米定量力學(xué)性能測(cè)試，同時(shí)獲得高分辨成像。此技術(shù)適用范圍很廣 (模量從1MPa到50GPa，粘附力從10pN到10μN(yùn))， 可以對(duì)不同類(lèi)型的樣品進(jìn)行表征。

電學(xué)表征：
模式，可以以更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征。把這些研究與其他技術(shù)結(jié)合起來(lái)，比如Dark Lift，可在掃描電容顯微鏡，掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡，扭轉(zhuǎn)共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無(wú)假象數(shù)據(jù)。

納米操縱：
可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級(jí)別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環(huán)掃描器可實(shí)現(xiàn)無(wú)壓電蠕變效應(yīng)和超低噪音的精密探針定位，適用于任何納米操縱系統(tǒng)。

加熱和冷卻：
使用AFM不同模式掃描的同時(shí)，可實(shí)現(xiàn)–35°C到 250°C的溫度控制和熱分析。使用熱探針可以在小于100nm的樣品局部加熱，達(dá)400°C 。