
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
標(biāo)簽測(cè)試概述
該系統(tǒng)檢測(cè)覆蓋RFID標(biāo)簽如編碼、命令等協(xié)議符合性項(xiàng)目以及標(biāo)簽的靈敏度、識(shí)讀距離、寫距離、反向識(shí)讀距離、最小識(shí)別功率、頻率特性、抗干擾特性等射頻指標(biāo)測(cè)試項(xiàng)目。
標(biāo)簽測(cè)試目的是進(jìn)行標(biāo)簽協(xié)議符合性測(cè)試和物理層性能測(cè)試。通過可配置的電參數(shù),掃描測(cè)試標(biāo)簽協(xié)議的符合性能,讀寫器模擬器硬件連接及標(biāo)簽測(cè)試框圖如下:

參數(shù)特點(diǎn):
軟件測(cè)試項(xiàng)目列表
ISO/IEC 18000-6B(標(biāo)簽) |
標(biāo)簽解調(diào)和返回時(shí)間 |
標(biāo)簽響應(yīng)時(shí)間 |
標(biāo)簽位速率 |
標(biāo)簽狀態(tài)存儲(chǔ)時(shí)間 |
標(biāo)簽激活功率 |
標(biāo)簽內(nèi)存測(cè)試 |
標(biāo)簽命令測(cè)試 |
ISO/IEC 18000-6C(標(biāo)簽) |
標(biāo)簽頻率范圍 |
標(biāo)簽解調(diào)性能 |
標(biāo)簽占空比 |
標(biāo)簽前導(dǎo)碼 |
標(biāo)簽連接頻率容差和變差 |
標(biāo)簽連接時(shí)限T1 |
標(biāo)簽連接時(shí)限T2 |
標(biāo)簽狀態(tài)圖 |
標(biāo)簽激活功率 |
標(biāo)簽內(nèi)存測(cè)試 |
標(biāo)簽命令測(cè)試 |
軟件測(cè)試界面
軟件概覽圖見下,主窗體從上至下分別代表了放大的通信序列圖、顏色區(qū)分的讀寫器和標(biāo)簽圖、可用于局部放大的縮略圖。其中用顏色區(qū)分讀寫器命令、標(biāo)簽命令以及載波信號(hào),方便觀察整個(gè)通信的流程。
測(cè)試軟件運(yùn)行界面
標(biāo)簽測(cè)試軟件界面截圖
射頻一致性測(cè)試截圖 (多窗口顯示)
RFID多窗口顯示(顯示標(biāo)簽信號(hào),讀寫器信號(hào),頻譜,OBW)
區(qū)域細(xì)節(jié)圖放大(顯示協(xié)議的細(xì)節(jié)內(nèi)容)