簡體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機(jī)后不需校準(zhǔn)就可直接測量
采用布魯克磚利技術(shù)的XFlash®SDD檢測器
分析元素*小從Mg開始，達(dá)40多種。
分析范圍：ppm級至50%以上(與礦樣種類有關(guān))
實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣
測量*無損，不受樣品形狀限制
儀器自動校準(zhǔn)，自動存儲測量數(shù)據(jù)，無需人工干預(yù)
主機(jī)一體化設(shè)計，高強(qiáng)度密封，防水、防塵，抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件，計算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機(jī)狀態(tài)下長時間不測量時，儀器會自動進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護(hù)儀器
X射線管耐用性強(qiáng)，采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng)，可準(zhǔn)確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補(bǔ)償元素間干擾。
免費(fèi)軟件升級
勘探：
手持式礦石分析儀S1 TITAN輕質(zhì)化、易攜帶的設(shè)計，極大地方便了在勘探現(xiàn)場直接探測并定位有潛在礦產(chǎn)的區(qū)域，測量鉆孔巖心，判定礦床的深度和分布情況
礦石分析：
一旦發(fā)現(xiàn)礦產(chǎn)地點，手持式礦石分析儀S1 TITAN可快速分析礦床
礦石質(zhì)量控制：
礦產(chǎn)定位且開始開采后，手持式礦石分析儀S1 TITAN可對每輛貨車內(nèi)的礦石進(jìn)行檢測，提供礦石的詳細(xì)品級信息，為即將流入加工廠的礦石進(jìn)行前期篩選，提高原料礦石的質(zhì)量
加工和濃度分析：
礦石加工過程中，手持式礦石分析儀S1 TITAN可測定樣品的濃度
復(fù)原和整治：
當(dāng)采礦作業(yè)進(jìn)入尾聲，手持式礦石分析儀S1 TITAN可用于未了分析，并協(xié)助完成土地復(fù)原
地質(zhì)化學(xué)痕量測定：
痕量元素
礦石探途元素
土壤或沉積層中的污染物
修復(fù)檢查
催化轉(zhuǎn)化器
地質(zhì)化學(xué)常量測定：
主要和微量元素
含金屬礦石
工業(yè)礦物
精礦
鋁土礦
校準(zhǔn)：
元素范圍：*多可達(dá)45種元素，包括鎂、鋁、硅、磷和硫
通過標(biāo)準(zhǔn)樣品，進(jìn)行多重特定基質(zhì)校準(zhǔn)
配備Bruker的連續(xù)自動增益校準(zhǔn)（CAGC），需現(xiàn)場增益檢查
樣品制備：
可直接測量巖石表面，但是這類樣品質(zhì)地不均勻，需要大量的數(shù)據(jù)采集才可實現(xiàn)有效的量化分析。反之，采用質(zhì)地均勻的樣品（如磨細(xì)的粉末）能夠獲得更準(zhǔn)確的分析結(jié)果。
*佳的解決方案是，把材料研磨成足夠細(xì)的粉末，壓制或輕巧成可復(fù)制、致密的樣品?，F(xiàn)場可使用多種輔助研磨工具，直接從巖石表面手機(jī)粉末，或者把樣品“捶打”成所要求的粉末，再將粉末壓制成顆粒狀，即可使用手持式礦石分析儀S1TITAN進(jìn)行分析。
環(huán)境條件：防護(hù)等級IP54：手持式礦石分析儀S1 TITAN在設(shè)計上課承受所有環(huán)境的縣長操作，包括潮濕及多塵的環(huán)境條件
密封式設(shè)計可防水防塵
采用橡膠模造，經(jīng)久耐用
可防止污染物及風(fēng)沙侵入
樣本立架可用于測量小型及復(fù)雜樣本
操作溫度：-10℃至+50℃
樣本溫度（間歇性使用）：150℃用于Ultralene窗口，500℃用于Kapton窗口
