品牌: | 日立 |
手持式XRF合金分析儀X-MET8000將牛津儀器的高性能X 光管和大面積硅漂移探測器(SDD)耦合在一起,其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應用需求。
X-MET8000 手持式合金分析儀是檢驗及制造行業(yè)中,進行廢舊金屬回收、貴金屬及珠寶分析、材料可靠性鑒定(PMI)的理想工具。
性能優(yōu)勢
X-MET8000系列有三種型號,可滿足不同的分析需求和資金預算需求
簡單的“對準即測”操作,使用方便
直觀的大圖標式用戶界面:操作員幾乎不需任何培訓
大面積4.3英寸彩色觸摸屏,即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗結果。操作簡單方便,戴上手套也不受影響
符合IP54 等級(相當于NEMA 3),能夠適應惡劣的環(huán)境
加強型防護窗口(用于E及O)可防止X射線管在測試小部件和尖銳物體時受損
可快速更換防護窗口:無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口
可按客戶要求定制檢驗結果模式,以便于快速作出判斷:即顯示您所需重要信息,例如牌號、元素成分、合格/不合格通知,以及元素的顯示順序
時尚精巧的設計
可選配相機,有助于準確定位測量
大量可自定義的牌號庫
預裝齊全牌號庫,并可自定義
技術參數
X-MET8000 S | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 E | |
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說明 | 對常用合金進行快速分揀的明智選擇 | 經過優(yōu)化,可快速分揀及分析合金,從鋁到銅、再到不銹鋼等 | 旗艦產品,性能優(yōu)異,可分析輕元素(鎂、鋁、硅、硫)、雜質元素及痕量元素 |
X光管 | 50千伏(用40千伏) | 50千伏 適用于增強型重金屬元素分析(如錫、銀、鎘) | |
X光管過濾器 | 單個過濾器 | 多個過濾器 適用于從鎂到鈾的所有元素的優(yōu)化分析 | |
探測器 | 大面積硅漂移探測器 | 大面積硅漂移探測器 | 大面積硅漂移探測器 |
元素范圍 | 鈦- 鈾 | 鎂- 鈾 | |
IP54等級 | 是 | 是 | 是 |
保護探測器窗口不受損壞 | 防軋膜窗口 | 可選窗口保護罩 | |
校準 | 無標樣FP分析 | 無標樣FP分析(含輕元素分析) | 無標樣FP分析+ 自動選擇經驗校準(可溯源的標準物質),可提供高精度及高準確度 |
藍牙 | 可選件 | 包含 | 包含 |
WiFi | 可選件 | 包含 | 包含 |
集成頭 | 可選件 | 可選件 | 可選件 |
報告 | 包含 | 包含 | 包含 |
應用領域
X-MET8000是用于金屬回收分析的理想金屬分析儀。手持式X 射線熒光光譜儀(XRF)可現場進行快速的合金分析與鑒定,已在廢料場上得到了廣泛應用。
X-MET8000 手持式合金分析儀的優(yōu)勢:
出眾的輕元素(從Mg到S)分析,提供準確的牌號鑒定
具有超低的檢出限,可準確分析微量、雜質元素
快速及準確的元素分析及牌號鑒定(自帶牌號庫)
重量輕(1.5公斤)、外形小,符合人體工學設計,電池續(xù)航時間長達10至12小時
快速開機:數秒內完成開機并進行檢測
樣品尺寸和形狀自動補償,可準確測試直徑低至1mm的管材、桿材、線材、焊縫、緊固件、車削屑和碎屑等
X-MET8000 是理想的珠寶及貴金屬分析儀。手持式X 射線熒光分析儀可對大小形狀的貴金屬物品進行無損的“對準即測”多元素分析,被廣泛用于珠寶及貴金屬測試。
X-MET8000 手持式貴金屬分析儀優(yōu)勢:
*無損檢測:樣品測試后無任何印記,亦不會有任何材料和價值損耗
快速而準確:較大的分析量,以利于高產量和率
超低的檢出限:可準確分析雜質和有毒元素(如Pb 和Cd),以確定可能存在的危害元素
簡便攜帶:X-MET8000外形小巧輕便(含電池1.5公斤),所有附件均可裝入手提箱,運輸輕松方便
堅固耐用:IP54防護等級,具有防塵和防水性能;超薄窗口(用于X-MET8000 S)或可選保護罩(用于O 和E),可防止和X射線管在測試小部件和尖銳物體時受損
X-MET8000是理想的材料可靠性鑒定(PMI)和質量控制工具。操作人員和維修人員可用手持式X 射線熒光光譜儀(XRF)現場對關鍵工序部件進行快速、無損的元素分析,由此減少由于關鍵部件故障而引發(fā)的嚴重事故,從而提高使用過程中的性。
X-MET8000 手持式合金分析儀用于PMI的優(yōu)勢:
可現場進行快速的合金分析
出眾的輕元素(從Mg到S)分析,可對零部件和系統(tǒng)進行嚴密控制
具有超低的檢出限,可完成微量/夾入元素分析
可完成快速而牌號鑒定,配備完整的金屬牌號庫
重量輕(1.5公斤)、外形小, 符合人體工學設計,電池續(xù)航時間長達10至12小時
快速開機:數秒內完成開機并進行檢測
儀器頭部:可輕松檢測彎曲及拐角部位(如焊縫)
X-MET8000是一款能在生產過程中完成無損金屬檢測的理想質量控制分析儀。手持式X射線熒光分析儀(XRF)是用于質量控制檢驗的工具,因為這種分析儀簡單易用,能夠在現場提供快速的無損分析。
X-MET8000 手持式合金分析儀用于PMI 質量控制的優(yōu)勢:
通過對輕元素(從Mg到S)的分析,提供準確的牌號鑒定
具有超低的檢出限,可準確識別相近牌號(如303-304, 6061-6063)
快速分析和準確的牌號鑒定:數秒內出檢驗結果,減少實驗室測試,降低成本,縮短時間
重量輕(1.5公斤)、 外形小,符合人體工學設計,電池續(xù)航時間長達10至12小時
數秒內完成開機并進行檢測
樣品尺寸和形狀自動補償,可準確測試直徑小至1mm的管材、桿材、線材、焊縫、緊固件、車削屑和碎屑等