JWDL-1型金屬電阻率測試儀
JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專業(yè)設備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專門測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試范圍能夠更好的為你選配四探針測試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時間長。WDL-1型金屬電阻率測試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設備，也是材料生產(chǎn)廠家和科研的重要設備。
一、主要應用領域：
1、硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
2、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻
3、電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量
4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
二、主要技術參數(shù)：
測量范圍
1、電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
3、方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
4、電壓量程： 20.00mV～2000mV
5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A
6、誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
7、材料尺寸：直徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，
方測試臺直接測試方式180mm×180mm，
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,
測量方位: 軸向、徑向均可
8、探頭類型：
9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
12、外形尺寸：主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高
凈 重：≤2.5kg
導電金屬箔材
銅金屬材料
金屬材料
