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產(chǎn)品用途：
溫濕振/溫濕振高度綜合試驗箱廣泛應(yīng)用于重點實驗室和大型第三方檢測測試實驗室，涉及航空、航天、兵器、船舶、汽車、智能制造、新能源、通訊、計量、電子、鐵路、電力、醫(yī)療及科研院校等諸多國民經(jīng)濟的重點領(lǐng)域，在溫度濕度振動綜合條件下對測試件溫度應(yīng)力檢測、溫濕度篩選、可靠性測試、性能測試、耐候試驗、高低溫儲存、振動試驗、低氣壓試驗等綜合環(huán)境模擬可靠性試驗。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10590-2008 低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗方法
GB/T 2423.26-2008 高溫/低氣壓綜合試驗方法
GJB 150.2A -2009 低氣壓高度試驗方法（快速降壓除外）
GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法
GJB 150.24A-2009溫度-濕度-振動-高度試驗方法（振動除外）
GJB 360A-2009 電子及電氣元件試驗方法105低氣壓試驗的要求
GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1 低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2 高溫試驗方法
GB/T 2423.3-2008/IEC 60068-2-78 恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30 交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法
GJB 150.9A-2009 濕熱試驗方法
GJB 150.16A-2009 振動試驗方法
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
JJF 1270-2010溫度、濕度、振動綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
主要技術(shù)指標(biāo) ：
產(chǎn)品名稱 | 溫濕振三綜合試驗箱/溫濕振高度四綜合試驗箱 | ||||
產(chǎn)品型號 | MQ-THF500 | MQ-THF1000 | MQ-THF2000 | MQ-THF4000 | |
內(nèi)箱容積 | 升/L | 500 | 1000 | 2000 | 4000 |
內(nèi)箱尺寸 | W*D*H（cm） | 75×75×90 | 100×100×100 | 130×130×120 | 160×180×140 |
外形尺寸 | W*D*H（cm） | 95×240×195 | 120×260×215 | 150×350×240 | 210×450×260 |
性能指標(biāo) | 溫度范圍 | A、-40℃～150℃ B、-70℃～150℃ C、-90℃～150℃ | |||
濕度范圍 | A、10%～98%RH B、20%～98%RH C、 30%～98%RH | ||||
氣壓范圍 | 常壓～0.5kPa | ||||
溫度波動度 | ≤±0.5℃ | ||||
濕度波動度 | ≤±2%RH | ||||
溫度均勻度 | ≤2.0℃ | ||||
溫度偏差 | ≤±2.0℃ | ||||
濕度偏差 | 濕度＞75%RH：≤+2,-3%RH；濕度＜75%RH：≤±5%RH | ||||
升溫速率 | 2、5、10、15、20℃/min | ||||
降溫速率 | 2、5、10、15、20℃/min | ||||
振動頻率 | 3～2500HZ；3～3000HZ；5～4500HZ； | ||||
加速度 | 500m/s2；700 m/s2；1000m/s2； | ||||
位移 | 25mm；51mm； | ||||
動圈尺寸 | φ320mm；φ445mm；φ550mm； | ||||
臺面尺寸 | 50×50cm； 60×60cm；80×80cm；100×100cm；120×120cm | ||||
制冷方式 | 壓縮機制冷 | ||||
冷卻方式 | F、風(fēng)冷 W、水冷 | ||||
承壓方式 | 內(nèi)承壓/外承壓 | ||||
