WKL-722 粉塵形貌分散度測(cè)試儀 將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合，由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成。WKL-722 粉塵形貌分散度測(cè)試儀 該系統(tǒng)通過(guò)的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過(guò)的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形象、準(zhǔn)確、快速和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。
1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、自動(dòng)分割等幾十種功能。
2、可直接對(duì)粉塵粒徑的大小、形狀、周長(zhǎng)、面積以及分布均勻狀況等各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行計(jì)算分析，并*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將粒徑分布定義為四個(gè)區(qū)域，即：≤2um、2um～5um、5un～10um、＞10um，直接輸出檢測(cè)報(bào)告，也可以根據(jù)用戶(hù)要求進(jìn)行自定義分級(jí)。其操作方法簡(jiǎn)單、實(shí)用、快捷，計(jì)算結(jié)果準(zhǔn)確。
3、通過(guò)*的攝像技術(shù)，不僅可以保持粉塵顆粒的原型，而且在對(duì)重疊粉塵的處理方法上采用了**的圖像分割技術(shù)，是粉塵分散度測(cè)定的一次質(zhì)的飛躍。
關(guān)鍵詞：圖像處理 光學(xué)顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)
