VA-70NIR 錐光成像分析儀 特性
● VA-70NIR錐光成像儀配置了2500萬像素分辨率探測器，搭載±70°大視角錐光鏡頭，可測量500-1100nm波長范圍的發(fā)射器的輻射強度的角度分布，完整的提供了整個視角范圍內準確、快速的測量結果 。
● ProICM測試軟件提供直觀的系統設置和數據分析，包括2D圖形、等距圖、雷達圖等圖形分析功能。
● 通過內置圖像緩沖內存以及千兆網接口實現高速測量和數據傳輸。
● 通過選配的濾光片輪可輕松實現多波長的檢測。
VA-70NIR 錐光成像分析儀 應用
● 人臉識別傳感器
● 3D傳感器
● TOF結構光激光器
● VCSEL
● 近紅外發(fā)射器
VA-70NIR 錐光成像分析儀 規(guī)格
型號 | VA-70NIR |
探測器 | 23*23mm |
總像素 | 2621萬 |
像素分辨率 | 5120*5120 |
測量功能 | 輻射強度、輻射通量、角度分布 |
曝光時間 | 80us~10sec |
波長范圍 | 500-1100nm之間各種單波長 |
濾光片 | 單個波長濾光片或多個波長濾光片 |
角度分辨率 | 0.039° |
測量直徑 | 4mm |
測量距離 | 3mm |
視角范圍 | ±70° |
尺寸 | 180*180*453mm(含鏡頭長度) |
接口 | LAN、Trigger |
工作溫度 | 10~40°C |
供電電壓 | AC電源適配器 |
* 規(guī)格參數與外觀有可能在沒有預先通知的情況下予以變更，恕不另行通知。
