儀器簡介:日本精工膜厚儀SFT-9400系列
SFT9000系列中高級的機(jī)型「SFT9400系列」
搭載有75W高功率X射線管與雙檢測器(半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管),能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“超微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的高性能鍍層厚度測量儀。
此外,SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎(chǔ)上,新增了可對不同被測物體積材料進(jìn)行定性分析和成分分析的功能。
技術(shù)參數(shù)日本精工膜厚儀SFT-9400系列
序號 | 項 目 | 參 數(shù) |
1 | 可測量元素 | 原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi) |
2 | X射線源 | 小型空氣冷卻型高功率X射線管球(Mo靶) |
3 | 濾波器 | 一次濾波器:Mo |
4 | 照射方式 | 上方垂直照射方式 |
5 | 檢測器 | 比例計數(shù)管+半導(dǎo)體檢測(無需液氮) |
6 | 準(zhǔn)直器 | 圓形:Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm |
7 | 安全性能 | 樣品室門自鎖功能、樣品防沖撞功能、自動診斷功能 |
8 | 樣品圖像對焦方式 | 激光自動對焦 |
9 | 樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭 倍率光學(xué)器 鹵素?zé)粽彰?/p> |
10 | 樣品平臺大小及承重 | SFT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg SFT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg SFT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg |
11 | 重量 | SFT9400/SFT9450:125kg (不含電腦) |
12 | 修正功能 | 底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正 |
13 | 測量報告書制作 | 配備MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自動制作測量報告書) 測量能譜與樣品圖像保存功能 |
主要特點:
1. 搭載有高功率X射線管及雙檢測器(半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管)
可對應(yīng)組合復(fù)雜的應(yīng)用程序,特別是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。
能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進(jìn)行測量
對于含Br的電路板,可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進(jìn)行高精度的測量
可測量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度
2. 搭載塊體FP發(fā)軟件和薄膜FP法軟件
對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等,適用于廣泛的運用領(lǐng)域
3. 適用超微小面積的測量
標(biāo)準(zhǔn)配備的15μmΦ的準(zhǔn)直器,可對超微小面積進(jìn)行測量。
4. 搭載了可3段切換的變焦距光學(xué)系統(tǒng)
5. 搭載高精度樣品平臺,更可測量大型線路板(SFT9455)
6. 自動對焦功能
配備激光自動對焦功能,能夠準(zhǔn)確對焦,提高測量效率。
7. 搭載測試報告自動生成軟件